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一种wafer连续结果分析方法
申请人信息
- 申请人:东莞市利致软件科技有限公司
- 申请人地址:523465 广东省东莞市南城街道黄金路1号天安数码城1栋1单元318室
- 发明人: 东莞市利致软件科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种wafer连续结果分析方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311478233.8 |
| 申请日 | 2023/11/7 |
| 公告号 | CN117472962A |
| 公开日 | 2024/1/30 |
| IPC主分类号 | G06F16/2455 |
| 权利人 | 东莞市利致软件科技有限公司 |
| 发明人 | 翁文徽; 谢真示; 顾芳明; 卢旭坤; 郑朝生 |
| 地址 | 广东省东莞市南城街道黄金路1号天安数码城1栋1单元318室 |
摘要文本
东莞市利致软件科技有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本公开揭示了一种wafer连续结果分析方法，包括以下步骤：S100：获取wafer晶圆测试结果的二维数组，对数组逐行遍历，选择记录每行中连续的0元素并记作一个group；S200：记录每个group在二维数组中的坐标，并对所有group进行编号，数组逐行遍历完成后获得group列表；S300：对group列表按纵坐标逐行遍历；S400：对逐行遍历后的group列表重新统计，以获得最终的连续块。本公开能够减少分析耗时，提高wafer连续结果分析效率，并且能够防止数据量变大导致资源耗尽而造成系统崩溃。
专利主权项内容
1.一种wafer连续结果分析方法，包括以下步骤：S100：获取wafer晶圆测试结果的二维数组，对数组逐行遍历，选择记录每行中连续的0元素并记作一个group；S200：记录每个group在二维数组中的坐标，并对所有group进行编号，数组逐行遍历完成后获得group列表；S300：对group列表按纵坐标逐行遍历；S400：对逐行遍历后的group列表重新统计，以获得最终的连续块。 更多数据：搜索马克数据网来源：