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一种基于光学扫描的复合绝缘子爬电距离测量方法及装置
申请人信息
- 申请人:广州广华智电科技有限公司
- 申请人地址:510700 广东省广州市黄埔区香雪八路98号F栋
- 发明人: 广州广华智电科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于光学扫描的复合绝缘子爬电距离测量方法及装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311139280.X |
| 申请日 | 2023/9/5 |
| 公告号 | CN117368934A |
| 公开日 | 2024/1/9 |
| IPC主分类号 | G01S17/08 |
| 权利人 | 广州广华智电科技有限公司 |
| 发明人 | 赵晨龙; 李晓刚; 谢敏; 刘祝鸿 |
| 地址 | 广东省广州市黄埔区香雪八路98号F栋 |
摘要文本
本申请公开了一种基于光学扫描的复合绝缘子爬电距离测量方法及装置，方法包括：获取两个激光位移传感器的测量数据；测量数据包括激光点的位置；其中，规定前进方向为绝缘子的右方，前进方向的激光位移传感器移动采集数据，作为右传感器；另一个激光位移传感器的移动方向为所述前进方向的反方向，另一个激光位移传感器移动采集数据，作为左传感器；建立平面直角坐标系；确定测量数据在平面直角坐标系中对应的坐标数据，并将两个激光位移传感器对应的坐标数据进行融合，得到融合数据；根据融合数据计算出绝缘子的爬电距离。本申请可以提高绝缘子爬电距离的测量精度，可广泛应用于测量绝缘子爬电距离技术领域。 百度搜索专利查询网
专利主权项内容
1.一种基于光学扫描的复合绝缘子爬电距离测量方法，其特征在于，包括：获取两个激光位移传感器的测量数据；所述测量数据包括激光点的位置；其中，规定前进方向为绝缘子的右方，前进方向的激光位移传感器移动采集数据，作为右传感器；另一个激光位移传感器的移动方向为所述前进方向的反方向，另一个激光位移传感器移动采集数据，作为左传感器；建立平面直角坐标系；确定所述测量数据在所述平面直角坐标系中对应的坐标数据，并将两个激光位移传感器对应的坐标数据进行融合，得到融合数据；根据所述融合数据计算出所述绝缘子的爬电距离。