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一种微型片式电感双线绕线异常定位方法及系统

申请号: CN202311787722.1
申请人: 惠州市德立电子有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种微型片式电感双线绕线异常定位方法及系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202311787722.1
申请日 2023/12/25
公告号 CN117474999A
公开日 2024/1/30
IPC主分类号 G06T7/73
权利人 惠州市德立电子有限公司
发明人 黄汝林
地址 广东省惠州市博罗县罗阳镇洲际工业园梅园三路

摘要文本

本发明涉及图像处理技术领域,具体涉及一种微型片式电感双线绕线异常定位方法及系统,该方法包括:采集电感图像,提取磁芯内、外径圆;获取漆包线缠绕区域纹路图像,将纹路进行划分,提取各漆包线边缘纹路;计算极坐标中各位置的光照强度;根据各位置的光照强度得到漆包线缠绕区域灰度图像在极坐标中各位置的反光分布补偿;提取各像素点的关联像素点,计算各关联像素点的中心位置偏移量,得到像素点修正后的灰度值;提取修正后漆包线缠绕区域二值图像;计算各连通域的异常检测值,提取双线绕线异常的漆包线段,完成微型片式电感双线绕线异常定位。从而实现电感双线绕线异常精确定位,实现电感绕线异常的检测。

专利主权项内容

1.一种微型片式电感双线绕线异常定位方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:采集电感图像并进行灰度化;根据电感灰度图像结合阈值分割得到二值图像,并提取磁芯内、外径圆;采用磁芯内、外径圆构成圆环区域灰度值为1、其他区域灰度值为0的掩膜图像对电感灰度图像进行掩膜处理获取漆包线缠绕区域灰度图像;对漆包线缠绕区域灰度图像边缘检测获取漆包线缠绕区域纹路图像,根据漆包线缠绕区域纹路图像中各边缘像素点的分布将纹路进行划分,从纹路划分后的漆包线缠绕区域纹路图像中提取各漆包线边缘纹路;结合漆包线缠绕区域灰度图像构建极坐标,并计算极坐标中各位置的光照强度;根据各位置的光照强度得到漆包线缠绕区域灰度图像在极坐标中各位置的反光分布补偿;提取各像素点的关联像素点;根据像素点的各关联像素点周围的纹路分布得到各关联像素点的中心位置偏移量;根据像素点的反光分布补偿及对应关联像素点的中心位置偏移量得到像素点修正后的灰度值;采用大津阈值对所有像素点修正后的灰度值进行分割得到漆包线缠绕区域二值图像;根据漆包线缠绕区域二值图像中各连通域内像素点的分布得到各连通域的异常检测值,将异常检测值大于等于预设阈值的连通域对应的漆包线线段作为双线绕线异常的漆包线段,完成微型片式电感双线绕线异常定位。。来自马-克-数-据