厚度参数的控制方法、装置、设备及存储介质

专利主权项内容

1.一种厚度参数的控制方法，其特征在于，所述厚度参数的控制方法包括：通过预置的激光扫描仪扫描目标管材的表面，得到所述目标管材的管材表面的三维坐标数据集；对所述三维坐标数据集进行嵌入向量表示，得到所述三维坐标数据集对应的嵌入向量集；将所述嵌入向量集输入预置的管材分割区域分析模型进行区域分析，得到多个管材分割区域；通过多个所述管材分割区域对所述目标管材进行区域分割，得到多个管材区域，并对多个所述管材区域进行管材厚度提取，得到厚度数据集；基于所述厚度数据集分别对每个所述管材区域进行厚度缺陷识别，得到每个所述管材区域的厚度缺陷特征；具体包括：对所述厚度数据集进行厚度平均值计算，得到目标平均值；通过所述目标平均值对所述厚度数据集进行数据筛选，得到多个厚度异常值；通过多个所述厚度异常值分别对每个所述管材区域进行异常厚度位置定位，得到多个异常厚度位置；基于多个所述异常厚度位置，分别对每个所述管材区域进行厚度缺陷识别，得到每个所述管材区域的厚度缺陷特征；其中，得到每个所述管材区域的厚度缺陷特征，包括：基于多个所述异常厚度位置，分别对每个所述管材区域进行关键位置识别，得到每个所述管材区域对应的关键位置坐标；在每个所述管材区域对应的关键位置坐标，对每个所述管材区域进行图像采集，得到每个所述管材区域的管材图像集；对每个所述管材区域的管材图像集进行图像二值化处理，得到多个二值化图像集；对每个所述二值化图像集进行像素值分析，得到每个所述二值化图像集的像素值数据；基于每个所述二值化图像集的像素值数据，分别对每个所述管材区域进行厚度缺陷识别，得到每个所述管材区域的厚度缺陷特征；通过预置的厚度约束条件对每个所述管材区域的厚度缺陷特征进行厚度调整参数计算，得到对应的厚度调整参数集合；具体包括：对每个所述管材区域的厚度缺陷特征进行缺陷类型识别，得到多个缺陷类型；对多个所述缺陷类型进行缺陷原因分析，得到每个所述缺陷类型的缺陷原因；基于每个所述缺陷类型的缺陷原因，通过所述厚度约束条件对每个所述管材区域的厚度缺陷特征进行厚度调整参数计算，得到对应的厚度调整参数集合；其中，得到对应的厚度调整参数集合，包括：对每个所述缺陷类型的缺陷原因进行原因标签构建，得到多个原因标签数据；基于多个所述原因标签数据对所述厚度约束条件进行条件修正，得到优化厚度约束条件；通过所述优化厚度约束条件，对每个所述管材区域的厚度缺陷特征进行厚度差异计算，得到多个厚度差异数据；对多个所述厚度差异数据进行厚度调整参数计算，得到所述厚度调整参数集合；通过所述厚度调整参数集合对所述目标管材进行厚度参数控制策略生成，得到厚度参数控制策略，并通过所述厚度参数控制策略对所述目标管材进行管材厚度控制。