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缺陷场景下点云的降采样方法及装置
申请人信息
- 申请人:深圳市信润富联数字科技有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市罗湖区桂园街道老围社区深南东路5016号蔡屋围京基一百大厦A座2001-06
- 发明人: 深圳市信润富联数字科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 缺陷场景下点云的降采样方法及装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311808186.9 |
| 申请日 | 2023/12/26 |
| 公告号 | CN117456131A |
| 公开日 | 2024/1/26 |
| IPC主分类号 | G06T17/20 |
| 权利人 | 深圳市信润富联数字科技有限公司 |
| 发明人 | 胡亘谦; 杨超; 赵佳南 |
| 地址 | 广东省深圳市罗湖区桂园街道老围社区深南东路5016号蔡屋围京基一百大厦A座2001-06 |
摘要文本
深圳市信润富联数字科技有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本申请涉及一种缺陷场景下点云的降采样方法及装置，其中，该方法包括：获取当前检测到的缺陷结果的点云集合，其中，点云集合中包括用于表征目标设备的缺陷部位的三维点；以预设长度为立体方格的长，在空间直角坐标系中将点云集合分割为多个连续的立体方格；确定每一个立体方格中每一个点与基准法向量之间的法向量夹角，其中，基准法向量为立体方格中三维坐标为0的点作为基准点得到的法向量；基于法向量夹角确定立体方格的复杂度；基于复杂度和距离降采样阈值确定采样系数，并基于采样系数对点云集合进行降采样。通过本申请，解决了现有技术中进行均匀的降采样导致点云缺失大量细节的问题。 来自马-克-数-据-官网
专利主权项内容
1.一种缺陷场景下点云的降采样方法，其特征在于，包括：获取当前检测到的缺陷结果的点云集合，其中，所述点云集合中包括用于表征目标设备的缺陷部位的三维点；以预设长度为立体方格的长，在空间直角坐标系中将所述点云集合分割为多个连续的立体方格；确定每一个所述立体方格中每一个点与基准法向量之间的法向量夹角，其中，所述基准法向量为所述立体方格中三维坐标为0的点作为基准点得到的法向量；基于所述法向量夹角确定所述立体方格的复杂度；其中，所述复杂度的值越大则表示所述立体方格内部越复杂；基于所述复杂度和距离降采样阈值确定采样系数，并基于所述采样系数对所述点云集合进行降采样，其中，所述距离降采样阈值越大距离缺陷质心越近。