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一种智能眼镜屏的校正方法、装置、电子设备和存储介质
申请人信息
- 申请人:深圳精智达技术股份有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市龙华街道清湖社区清湖村富安娜公司1号101工业园D栋1楼东
- 发明人: 深圳精智达技术股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种智能眼镜屏的校正方法、装置、电子设备和存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311691750.3 |
| 申请日 | 2023/12/11 |
| 公告号 | CN117455818A |
| 公开日 | 2024/1/26 |
| IPC主分类号 | G06T5/80 |
| 权利人 | 深圳精智达技术股份有限公司 |
| 发明人 | 罗文果; 杨硕; 张滨 |
| 地址 | 广东省深圳市龙华街道清湖社区清湖村富安娜公司1号101工业园D栋1楼东 |
摘要文本
深圳精智达技术股份有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本申请公开了一种智能眼镜屏的校正方法、装置、电子设备和存储介质，用于降低传统智能眼镜屏像素点的校正过程的复杂性。本申请校正方法包括：根据待测智能眼镜屏的分辨率制作Grid定位图像；将Grid定位图像输入待测智能眼镜屏，获取点阵拍摄图像；对点阵拍摄图像进行阴影校正处理，生成阴影校正图像；获取实际Mark点阵位置信息；根据实际Mark点阵信息和预期Mark点阵信息计算缩放比例矩阵；使用缩放比例矩阵将阴影校正图像的畸变像素点坐标进行缩放，获取预期像素点坐标；根据预期像素点坐标和畸变像素点坐标计算畸变参数集合；根据畸变参数集合计算畸变量；根据畸变量对阴影校正图像上的像素点进行畸变校正。 专利查询网
专利主权项内容
1.一种智能眼镜屏的校正方法，其特征在于，包括：根据待测智能眼镜屏的分辨率制作Grid定位图像，所述Grid定位图像上设置有排列均匀的Mark点；将所述Grid定位图像输入所述待测智能眼镜屏，并拍摄所述待测智能眼镜屏获取点阵拍摄图像；对所述点阵拍摄图像进行阴影校正处理，生成阴影校正图像；提取所述阴影校正图像的Mark点，获取实际Mark点阵位置信息；根据所述实际Mark点阵信息和所述Grid定位图像的预期Mark点阵信息计算缩放比例矩阵；使用所述缩放比例矩阵将所述阴影校正图像的畸变像素点坐标进行缩放，获取预期像素点坐标；根据所述预期像素点坐标和所述畸变像素点坐标计算畸变参数集合；根据所述畸变参数集合计算畸变量；根据所述畸变量对所述阴影校正图像上的像素点进行畸变校正。。