← 返回列表
一种MTK耦合测试方法、系统及介质
申请人信息
- 申请人:深圳市天龙世纪科技发展有限公司
- 申请人地址:518109 广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区泉新源工业区1号工业楼3层、5层
- 发明人: 深圳市天龙世纪科技发展有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种MTK耦合测试方法、系统及介质 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202311689680.8 |
| 申请日 | 2023/12/11 |
| 公告号 | CN117395707B |
| 公开日 | 2024/3/19 |
| IPC主分类号 | H04W24/08 |
| 权利人 | 深圳市天龙世纪科技发展有限公司 |
| 发明人 | 张冠峰 |
| 地址 | 广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区泉新源工业区1号工业楼3层、5层 |
摘要文本
深圳市天龙世纪科技发展有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本申请实施例提供了一种MTK耦合测试方法、系统及介质，该方法包括：获取射频信号，将射频信号进行预处理，得到优化信号；根据优化信号进行调制，得到调试信号；根据调试信号对MTK进行耦合测试，得到耦合结果；将耦合结果与预设的结果进行比较，得到耦合偏差；根据耦合偏差生成补偿信息，根据补偿信息对调制信号进行补偿，得到补偿结果；根据补偿结果对MTK进行二次耦合，并测试信息，将测试信息按照预定的方式传输至终端；通过射频信号对MTK进行耦合测试，并根据耦合测试结果进行实时调整射频信号，从而提高耦合测试精度。 来自专利查询网
专利主权项内容
1.一种MTK耦合测试方法，其特征在于，包括：获取射频信号，将射频信号进行预处理，得到优化信号；根据优化信号进行调制，得到调试信号；根据调试信号对MTK进行耦合测试，得到耦合结果；将耦合结果与预设的结果进行比较，得到耦合偏差；根据耦合偏差生成补偿信息，根据补偿信息对调制信号进行补偿，得到补偿结果；根据补偿结果对MTK进行二次耦合，并得到测试信息，将测试信息按照预定的方式传输至终端。