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晶圆缺陷检测方法、装置、电子束扫描设备及存储介质
申请人信息
- 申请人:深圳市昇维旭技术有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市龙岗区平湖街道辅城坳社区新源三巷1号B栋104
- 发明人: 深圳市昇维旭技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 晶圆缺陷检测方法、装置、电子束扫描设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311390935.0 |
| 申请日 | 2023/10/24 |
| 公告号 | CN117437193A |
| 公开日 | 2024/1/23 |
| IPC主分类号 | G06T7/00 |
| 权利人 | 深圳市昇维旭技术有限公司 |
| 发明人 | 赵雄 |
| 地址 | 广东省深圳市龙岗区平湖街道辅城坳社区新源三巷1号B栋104 |
摘要文本
深圳市昇维旭技术有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本申请属于半导体技术领域,揭示一种晶圆缺陷检测方法、装置、电子束扫描设备及存储介质,该方案在启动对待检晶圆的目标缺陷检测区域进行电子束扫描以后,获取待检晶圆的晶圆图像,并计算晶圆图像的图像锐度,基于晶圆图像的图像锐度,获得晶圆图像的锐度评估值,当锐度评估值不符合预设条件,说明获取到的晶圆图像质量不良,标记待检晶圆的缺陷检测结果为不可靠检测结果,区分于晶圆图像质量良好的待检晶圆的缺陷检测结果,提高各待检晶圆的缺陷检测结果可靠性,避免后续工序使用错误的缺陷检测结果。并且,还通过中止待检晶圆的缺陷检测,及时停止该晶圆图像质量不良的待检晶圆的缺陷检测程序,避免无意义的执行步骤,提高EBI的有效利用率。
专利主权项内容
1.一种晶圆缺陷检测方法,其特征在于,包括:对待检晶圆的目标缺陷检测区域进行电子束扫描,以检测所述目标缺陷检测区域的缺陷,其中,所述待检晶圆具有一个或多个缺陷检测区域;获取所述待检晶圆的晶圆图像,并计算所述晶圆图像的图像锐度;基于所述晶圆图像的图像锐度,获得所述晶圆图像的锐度评估值;判断所述晶圆图像的锐度评估值是否符合预设条件;当所述晶圆图像的锐度评估值不符合预设条件,标记所述待检晶圆的缺陷检测结果为不可靠检测结果。。详见官网: