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一种MOS管及其制备方法

申请号: CN202410149591.2
申请人: 深圳天狼芯半导体有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种MOS管及其制备方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202410149591.2
申请日 2024/2/2
公告号 CN117690968A
公开日 2024/3/12
IPC主分类号 H01L29/78
权利人 深圳天狼芯半导体有限公司
发明人 李金耀
地址 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区科技南路18号深圳湾科技生态园12栋裙楼904-905

摘要文本

本申请提供一种MOS管及其制备方法,该MOS管包括漂移层、多个第一掺杂区、多个第二掺杂区、栅极、源极以及漏极,漂移层的一侧形成有凸台;多个第一掺杂区间隔绕设在凸台的四周,相邻两个第一掺杂区之间形成第一间隔;多个第二掺杂区中的每一第二掺杂区对应设置在一个第一间隔内;其中,第二掺杂区的掺杂类型不同于第一掺杂区的掺杂类型;本申请中一方面通过在凸台的四周形成第一掺杂区和第二掺杂区,第一掺杂区和第二掺杂区形成横向水平电场;在栅极促使源极和漏极导通前,需要先克服该横向水平电场,才能将此区域击穿,因此有利于提高MOS管的击穿电压;另一方面,每一第二掺杂区均可形成导电沟道,通过设置多个导电沟道以有利于减小导通电阻。

专利主权项内容

1.一种MOS管,其特征在于,所述MOS管包括:漂移层,所述漂移层的一侧形成有凸台;多个第一掺杂区,所述多个第一掺杂区间隔绕设在所述凸台的四周,相邻两个所述第一掺杂区之间形成第一间隔;多个第二掺杂区,所述多个第二掺杂区间隔绕设在所述凸台的四周,且每一所述第二掺杂区对应设置在一个所述第一间隔内;其中,所述第二掺杂区的掺杂类型不同于所述第一掺杂区的掺杂类型;栅极,设置在所述凸台上,且所述栅极延伸至所述第一掺杂区以及所述第二掺杂区上;源极,设置在所述第二掺杂区上,并与所述第二掺杂区电连接;漏极,设置在所述漂移层背离所述凸台的一侧。。马 克 数 据 网