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一种集成电路封装件及检测装置

申请号: CN202410135243.X
申请人: 深圳市航瑞芯科技有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种集成电路封装件及检测装置
专利类型 发明申请
申请号 CN202410135243.X
申请日 2024/1/31
公告号 CN117673046A
公开日 2024/3/8
IPC主分类号 H01L23/544
权利人 深圳市航瑞芯科技有限公司
发明人 吕和召
地址 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南一道008号创维大厦A301

摘要文本

更多数据:搜索专利查询网来源: 本发明公开了一种集成电路封装件及检测装置,包括有封装体、焊接引脚、指示凹面和检测凹面;还包括有放置平台、检测单元、接触导电臂和驱动气缸。本发明具有以下优点和效果:对封装体的上电检测更加快速便捷;同时能适配不同宽度的封装体,当封装体两侧的焊接引脚间隔过大或者过小时,均能保证有效的适配。

专利主权项内容

1.一种集成电路封装件,包括有由模塑料成型的封装体(11),所述的封装体(11)的内部封装有芯片,所述的封装体(11)延伸出多个分别与芯片构成电连接的焊接引脚,各所述的焊接引脚规则分布在封装体(11)的两侧,所述的封装体(11)的顶面的角落位置设置有用于指示封装体(11)方向的指示凹面(12);其特征在于:各所述的焊接引脚的顶面均开设有截面形状为圆形的检测凹面(13)。