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一种模糊测试用例优化方法及系统
申请人信息
- 申请人:中兴通讯股份有限公司
- 申请人地址:518057 广东省深圳市南山区科技南路55号
- 发明人: 中兴通讯股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种模糊测试用例优化方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410134598.7 |
| 申请日 | 2024/1/31 |
| 公告号 | CN117667749A |
| 公开日 | 2024/3/8 |
| IPC主分类号 | G06F11/36 |
| 权利人 | 中兴通讯股份有限公司 |
| 发明人 | 张金鑫; 刘谈; 赵英俊; 刘晖 |
| 地址 | 广东省深圳市南山区科技南路55号 |
摘要文本
本申请实施例提供了一种模糊测试用例优化方法及系统，该方法包括：基于预先生成的第一测试用例和自动状态机对测试目标进行第一轮模糊测试，其中，第一测试用例包含测试目标在多个协议状态下的测试用例；根据测试目标的模糊测试结果确定有效测试用例；基于有效测试用例对机器学习模型进行训练，得到训练好的测试用例生成模型；基于测试用例生成模型生成第二测试用例。本申请实施例基于自动状态机进行第一轮模糊测试，使模糊测试能够覆盖更多协议状态下的测试用例，并基于有效测试用例训练机器学习模型，提高生成测试用例的有效性，进而可以解决相关技术中生成的模糊测试用例有效率低，严重影响模糊测试效率的问题，提高了模糊测试效率。
专利主权项内容
1.一种模糊测试用例优化方法，其特征在于，所述方法包括：基于预先生成的第一测试用例和自动状态机对测试目标进行第一轮模糊测试，其中，所述第一测试用例包含所述测试目标在多个协议状态下的测试用例；根据所述测试目标的模糊测试结果确定有效测试用例；基于所述有效测试用例对机器学习模型进行训练，得到训练好的测试用例生成模型；基于所述测试用例生成模型生成第二测试用例。