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ESD事件检测方法
申请人信息
- 申请人:禹创半导体(深圳)有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市前海深港合作区南山街道听海大道5059号前海鸿荣源中心A座1801-02AB
- 发明人: 禹创半导体(深圳)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | ESD事件检测方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410167586.4 |
| 申请日 | 2024/2/6 |
| 公告号 | CN117706260A |
| 公开日 | 2024/3/15 |
| IPC主分类号 | G01R31/00 |
| 权利人 | 禹创半导体(深圳)有限公司 |
| 发明人 | 陈廷仰; 廖志洋; 谢玉轩; 劉建杰; 吳旻興 |
| 地址 | 广东省深圳市前海深港合作区南山街道听海大道5059号前海鸿荣源中心A座1801-02AB(一照多址企业) |
摘要文本
本申请涉及计算机技术领域，提供了一种ESD事件检测方法，所述方法包括：主机生成第一寄存器指令，并基于预设的循环冗余算法对所述第一寄存器指令进行处理，得到第一预设CRC值；所述主机将所述第一寄存器指令和所述第一预设CRC值发送至目标寄存器；所述目标寄存器接收所述第一寄存器指令和所述第一预设CRC值，并基于预设的循环冗余算法对所述第一寄存器指令进行处理，得到第一校验CRC值；所述目标寄存器和所述主机基于所述第一预设CRC值和所述第一校验CRC值判断是否发生了ESD事件。采用该方法，在电子设备中不设计检测电路也能够对ESD事件进行检测，从而降低了电子设备的制造成本。
专利主权项内容
1.一种ESD事件检测方法，其特征在于，包括：主机生成第一寄存器指令，并基于预设的循环冗余算法对所述第一寄存器指令进行处理，得到第一预设CRC值；所述主机将所述第一寄存器指令和所述第一预设CRC值发送至目标寄存器；所述目标寄存器接收所述第一寄存器指令和所述第一预设CRC值，并基于预设的循环冗余算法对所述第一寄存器指令进行处理，得到第一校验CRC值；所述目标寄存器和所述主机基于所述第一预设CRC值和所述第一校验CRC值判断是否发生了ESD事件。。更多数据：