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一种抑制漏电的N型MOS管

申请号: CN202410043559.6
申请人: 深圳奥简科技有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种抑制漏电的N型MOS管
专利类型 发明申请
申请号 CN202410043559.6
申请日 2024/1/11
公告号 CN117832257A
公开日 2024/4/5
IPC主分类号 H01L29/06
权利人 深圳奥简科技有限公司
发明人 王克丞; 林庭佑
地址 广东省深圳市南山区粤海街道滨海社区海天一路19、17、18号深圳市软件产业基地4栋528

摘要文本

本申请涉及一种抑制漏电的N型MOS管,该N型MOS管包括:P型衬底,通过N型区隔离出的隔离P阱,以及与P型衬底直接接触的连接P阱;隔离P阱上设置有P+区和N+区,隔离P阱用于生成N型MOS管的栅极,源极和漏极;隔离P阱在水平方向上的两侧设置有第一高压N阱,隔离P阱与P型衬底之间设置有第一N型掩埋层,第一N型掩埋层和第一高压N阱接触,形成对隔离P阱的隔离层;在水平方向上,第一高压N阱之外,还设置有至少一层增强隔离层,增强隔离层包括靠近隔离P阱的增强P阱和与增强P阱接触设置的第二高压N阱。以解决相关技术中的N型MOS管在体电压高于隔离电压,会发生漏电,容易导致N型MOS管工作异常的技术问题。

专利主权项内容

1.一种抑制漏电的N型MOS管,其特征在于,包括:P型衬底,通过N型区隔离出的隔离P阱,以及与所述P型衬底直接接触的连接P阱;所述隔离P阱上设置有P+区和N+区,所述隔离P阱用于在所述P+区和N+区上设置金属结构和氧化物结构,生成N型MOS管的栅极,源极,漏极和体极;所述隔离P阱在水平方向上的两侧设置有第一高压N阱,所述隔离P阱在竖直方向上设置在所述P型衬底的上方,且所述隔离P阱在竖直方向上与所述P型衬底之间设置有第一N型掩埋层,所述第一N型掩埋层和所述第一高压N阱接触,形成对所述隔离P阱的隔离层;在水平方向上,所述第一高压N阱之外,还设置有至少一层增强隔离层,所述增强隔离层包括靠近所述隔离P阱的增强P阱和与所述增强P阱接触设置的第二高压N阱;所述连接P阱设置在所述增强隔离层的水平外侧,与所述P型衬底相连。