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一种皱纹深度指数确定方法、装置、电子设备及存储介质
申请人信息
- 申请人:深圳市宗匠科技有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市南山区粤海街道滨海社区高新南十道63号高新区联合总部大厦26层
- 发明人: 深圳市宗匠科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种皱纹深度指数确定方法、装置、电子设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410044803.0 |
| 申请日 | 2024/1/12 |
| 公告号 | CN117593780A |
| 公开日 | 2024/2/23 |
| IPC主分类号 | G06V40/16 |
| 权利人 | 深圳市宗匠科技有限公司 |
| 发明人 | 王念欧; 郦轲; 苏丁鹏; 万进 |
| 地址 | 广东省深圳市南山区粤海街道滨海社区高新南十道63号高新区联合总部大厦26层 |
摘要文本
本发明公开了一种皱纹深度指数确定方法、装置、电子设备及存储介质；该方法包括：获取待处理图像，对待处理图像进行皱纹检测确定皱纹；计算皱纹的面积和偏心率，基于皱纹的面积和偏心率对皱纹进行过滤，确定目标皱纹，其中，偏心率根据所述皱纹的宽度和高度确定；针对每个目标皱纹，确定目标皱纹的至少一个横截面，对于目标皱纹的每个横截面，提取横截面的像素点的像素值，基于各像素值确定所述像素点的一阶导数，根据各像素点的一阶导数计算横截面的高度差，基于高度差确定所述横截面对应的皱纹深度指数，基于各横截面的皱纹深度指数确定所述目标皱纹的皱纹深度指数，解决了无法判断皱纹深度的问题，准确计算皱纹深度指数，以便判断皱纹深度。
专利主权项内容
1.一种皱纹深度指数确定方法，其特征在于，包括：获取待处理图像，对所述待处理图像进行皱纹检测确定皱纹；计算所述皱纹的面积和偏心率，基于所述皱纹的面积和偏心率对所述皱纹进行过滤，确定目标皱纹，其中，所述偏心率根据所述皱纹的宽度和高度确定；针对每个目标皱纹，确定所述目标皱纹的至少一个横截面，对于所述目标皱纹的每个横截面，提取所述横截面的像素点的像素值，基于各所述像素值确定所述像素点的一阶导数，根据各所述像素点的一阶导数计算横截面的高度差，基于所述高度差确定所述横截面对应的皱纹深度指数，基于各所述横截面的皱纹深度指数确定所述目标皱纹的皱纹深度指数。