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一种光模块误码测试装置及其测试方法

申请号: CN202410146452.4
申请人: 深圳市维度科技股份有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种光模块误码测试装置及其测试方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202410146452.4
申请日 2024/2/2
公告号 CN117674984A
公开日 2024/3/8
IPC主分类号 H04B10/073
权利人 深圳市维度科技股份有限公司
发明人 周其; 周建仁
地址 广东省深圳市南山区桃源街道福光社区留仙大道3370号南山智园崇文园区2号楼603

摘要文本

本发明公开了一种光模块误码测试装置及测试方法,包括测试底座,底座上可拆卸地连接有误码测试组件,误码测试组件配置有沿插拔方向开设的测试插口,测试插口用于供光模块插入;测试底座外可拆卸地连接有第一散热组件或冷热冲击座;且测试底座还可拆卸地连接有显示单元,显示单元电连接有转换座,转换座与误码测试组件电连接;当测试底座连接第一散热组件且连接显示单元时,可以直接通过转换座及显示单元进行误码测试,该模式下移动方便,满足室外测量的要求,灵活性高;当测试底座连接冷热冲击座时,可以通过外接的热流仪进行误码冷热冲击测试,以此还原光模块的实际测试场景,以保障误码测试精度;故本方案具备灵活性高且测试精度高的优点。

专利主权项内容

1.一种光模块误码测试装置,其特征在于,包括测试底座(10),所述测试底座(10)上设有误码测试组件(20),所述误码测试组件(20)配置有沿插拔方向开设的测试插口(21),所述测试插口(21)用于供光模块(90)插入;所述测试底座(10)在第一状态下,可拆卸地安装有第一散热组件(30),所述第一散热组件(30)用于对所述光模块(90)散热;所述测试底座(10)在第二状态下,可拆卸地安装有冷热冲击座(40);所述测试底座(10)外还可拆卸地连接有显示单元(60),所述显示单元(60)通过转换座(50)与所述误码测试组件(20)电连接;其中,所述冷热冲击座(40)包括依次连通的第一测试槽(41)和第二测试槽(42),所述第一测试槽(41)环设于所述测试插口(21)外,所述第二测试槽(42)延伸至所述冷热冲击座(40)的边沿,以形成第一进入口(401);且所述第二测试槽(42)与所述第一测试槽(41)之间的连通处形成沿所述插拔方向延伸的第二进入口(402);所述光模块(90)能经所述第二进入口(402)插接于所述测试插口(21)中;所述第一进入口(401)沿所述插拔方向插接有封口挡板部(43),所述封口挡板部(43)远离所述第一测试槽(41)的一端开设有进气口(431);所述进气口(431)用于连通外接的热流仪,且所述进气口(431)与所述第二测试槽(42)连通。