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一种天线射频性能的测试系统及方法
申请人信息
- 申请人:深圳市思翰铭科技有限公司
- 申请人地址:518100 广东省深圳市宝安区福永街道凤凰社区第四工业区礼悦食品工业园C幢第一层02号
- 发明人: 深圳市思翰铭科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种天线射频性能的测试系统及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410214544.1 |
| 申请日 | 2024/2/27 |
| 公告号 | CN117792526A |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | H04B17/10 |
| 权利人 | 深圳市思翰铭科技有限公司 |
| 发明人 | 古洪勇; 丘香 |
| 地址 | 广东省深圳市宝安区福永街道凤凰社区第四工业区礼悦食品工业园C幢第一层02号 |
摘要文本
本发明公开了一种天线射频性能的测试系统及方法，属于电信号的测试领域，本发明在监测点对天线的辐射强度进行采集，获取监测点的辐射强度、监测点至天线的距离和监测点的标准辐射强度导入第一测试值计算策略中进行第一测试值的计算，获取监测点的辐射强度和第一测试值导入第二测试值计算策略中进行第二测试值的计算，将计算得到的第一测试值和第二测试值代入测试异常值计算策略中进行测试异常值的计算，将得到的测试异常值与设定的测试异常阈值进行对比，进行天线射频异常报警，通过对天线射频数据进行综合计算对天线射频性能进行综合分析，提高了天线射频性能测试的准确性和测试效率。 （更多数据，详见专利查询网）
专利主权项内容
1.一种天线射频性能的测试方法，其特征在于，其包括以下具体步骤：S1、将待测试的天线固定安装在测试台上，获取待测试天线的标准方向图，获取标准方向图的边界轮廓图像，天线以额定发射功率进行辐射输出，边界轮廓等间距设置若干个监测点，在监测点对天线的辐射强度进行采集；S2、获取监测点的辐射强度、监测点至天线的距离和监测点的标准辐射强度导入第一测试值计算策略中进行第一测试值的计算；S3、获取监测点的辐射强度和第一测试值导入第二测试值计算策略中进行第二测试值的计算；S4、将计算得到的第一测试值和第二测试值代入测试异常值计算策略中进行测试异常值的计算；S5、将得到的测试异常值与设定的测试异常阈值进行对比，若得到的测试异常值大于等于设定的测试异常阈值，则进行天线射频异常报警，若得到的测试异常值小于设定的测试异常阈值，则显示天线射频正常。