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一种双工位mini芯片搬移控制系统
申请人信息
- 申请人:深圳市金创图电子设备有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市宝安区福海街道新和社区福园一路华发工业园A7幢第二层
- 发明人: 深圳市金创图电子设备有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种双工位mini芯片搬移控制系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410211915.0 |
| 申请日 | 2024/2/27 |
| 公告号 | CN117790379A |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | H01L21/67 |
| 权利人 | 深圳市金创图电子设备有限公司 |
| 发明人 | 刘福瑜; 朱崇建; 陈胜 |
| 地址 | 广东省深圳市宝安区福海街道新和社区福园一路华发工业园A7幢第二层 |
摘要文本
本发明公开了一种双工位mini芯片搬移控制系统，涉及芯片处理技术领域，设定模块，用于基于双工位设定对应的工作信息，基于工作信息分别规划双工位的路径信息，信息获取模块，与设定模块连接，用于获取工位信息，检测模块，与信息获取模块连接，用于对芯片进行质量检测得到芯片的质量信息，规划模块，与检测模块连接，用于获取不合格芯片对应的工位，下料模块，与规划模块连接，用于基于工作信息与合格信息通过路径信息对芯片进行下料。本发明更好的实现实际操作过程中的芯片搬移选择，提高芯片搬移操作效率和准确性。
专利主权项内容
1.一种双工位mini芯片搬移控制系统，其特征在于，包括：设定模块，用于基于双工位设定对应的工作信息，基于工作信息分别规划双工位的路径信息，其中，路径信息包括上料路径信息与下料路径信息；信息获取模块，与设定模块连接，用于获取工位信息，其中，工位信息包括有料工位与无料工位，基于工位信息通过路径信息完成芯片与工位的对应关系；检测模块，与信息获取模块连接，用于对芯片进行质量检测得到芯片的质量信息，基于预设条件判断质量信息的合格信息，其中，合格信息包括合格芯片与不合格芯片；规划模块，与检测模块连接，用于获取不合格芯片对应的工位，规划不合格芯片对应工位的下料路径作为不合格下料路径信息；下料模块，与规划模块连接，用于基于工作信息与合格信息通过路径信息对芯片进行下料，完成下料操作后将双工位回到原位。