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一种芯片封装内部植球方法及封装结构

申请号: CN202410061075.4
申请人: 深圳维盛半导体科技有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种芯片封装内部植球方法及封装结构
专利类型 发明申请
申请号 CN202410061075.4
申请日 2024/1/16
公告号 CN117690814A
公开日 2024/3/12
IPC主分类号 H01L21/60
权利人 深圳维盛半导体科技有限公司
发明人 余海滨; 赵光礼
地址 广东省深圳市宝安区西乡街道铁仔路共乐第一工业区第二栋厂房8楼东侧

摘要文本

本发明提供了一种芯片封装内部植球方法及封装结构,植球方法包括:S1、提供裸片,所述裸片上形成有下凹的键合窗口,所述键合窗口内设有外露的金属部;S2、在所述键合窗口中植入金球;S3、将网板放置于所述裸片上方,所述网板对应所述键合窗口的位置形成有网孔;S4、将高温的锡球刮入所述网孔内;S5、进行回流焊并取出网板,以使所述锡球融化并与所述金球结合。在裸片的金属部上利用植入金球的方式固定回流的锡球,然后将锡球设置在金属部及金球上,经过回流焊便可完成锡球植球的工艺,即仅需配置植球机便可以将锡球固定在芯片的金属部上;对于上述工艺而言,不需要配置溅射设备及电镀设备,进而降低了在芯片内部进行植球工艺的成本。 来自马-克-数-据

专利主权项内容

1.一种芯片封装内部植球方法,其特征在于,包括:S1、提供裸片,所述裸片上形成有下凹的键合窗口,所述键合窗口内设有外露的金属部;S2、在所述键合窗口中植入金球;S3、将网板放置于所述裸片上方,所述网板对应所述键合窗口的位置形成有网孔;S4、将高温的锡球刮入所述网孔内,以令所述锡球承载在所述金球上;S5、进行回流焊并取出网板,以使所述锡球融化并与所述金球结合。 数据由马 克 团 队整理