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一种用于边界扫描测试的延时校正处理方法、系统及平台

申请号: CN202410024727.7
申请人: 深圳市微特精密科技股份有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种用于边界扫描测试的延时校正处理方法、系统及平台
专利类型 发明申请
申请号 CN202410024727.7
申请日 2024/1/8
公告号 CN117783842A
公开日 2024/3/29
IPC主分类号 G01R31/3185
权利人 深圳市微特精密科技股份有限公司
发明人 梅燃燃; 孙德滔; 杨丹; 袁承范; 韩雪涛
地址 广东省深圳市宝安区沙井街道沙头社区创新路东塘工业区2号一层

摘要文本

本发明公开了一种用于边界扫描测试的延时校正处理方法、系统及平台,本发明通过方法实时获取与边界扫描测试作业相对应第一输入数据,并生成与所述第一输入数据相对应的第一波形数据;创建边界扫描延时模型,并根据所述边界扫描延时模型,结合所述第一波形数据,实时生成相对应的第一延时数据;实时获取与边界扫描测试作业相对应第二输入数据,并结合所述第一延时数据,生成与所述第二输入数据相对应的第一校正数据;根据所述第一校正数据,实时校正处理所述第一波形数据,并生成与所述第一波形数据相对应的第二波形数据;以及与所述方法相应的系统、平台,结合边界扫描驱动电路,从根本上对延时进行校正,提升边界扫描测试速率。。搜索专利查询网

专利主权项内容

1.一种用于边界扫描测试的延时校正处理方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:实时获取与边界扫描测试作业相对应第一输入数据,并生成与所述第一输入数据相对应的第一波形数据;其中,所述第一输入数据为测试作业输入控制信号数据;所述第一波形数据为波形状态数据;创建边界扫描延时模型,并根据所述边界扫描延时模型,结合所述第一波形数据,实时生成相对应的第一延时数据;其中,所述第一延时数据为波形的实际延时数据;实时获取与边界扫描测试作业相对应第二输入数据,并结合所述第一延时数据,生成与所述第二输入数据相对应的第一校正数据;其中,所述第二输入数据为测试作业输入参考控制信号数据;所述第一校正数据为数据延时校正参考数据;根据所述第一校正数据,实时校正处理所述第一波形数据,并生成与所述第一波形数据相对应的第二波形数据;其中,所述第二波形数据为校正处理后的波形状态。