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一种调节采样时间节点的方法和装置
申请人信息
- 申请人:深圳市芯茂微电子有限公司
- 申请人地址:518024 广东省深圳市罗湖区清水河街道清水河一路116号深业进元大厦塔楼1座15层
- 发明人: 深圳市芯茂微电子有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种调节采样时间节点的方法和装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410179375.2 |
| 申请日 | 2024/2/18 |
| 公告号 | CN117713832A |
| 公开日 | 2024/3/15 |
| IPC主分类号 | H03M1/12 |
| 权利人 | 深圳市芯茂微电子有限公司 |
| 发明人 | 赵鑫; 邓超 |
| 地址 | 广东省深圳市罗湖区清水河街道清水河一路116号深业进元大厦塔楼1座15层 |
摘要文本
本申请公开了一种调节采样时间节点的方法和装置，应用于采样时间调节领域。包括：获取芯片内部的偏置电流值；获取根据第一分压电阻值和第二分压电阻值确定的电阻系数；调节第一分压电阻，以得第一目标分压电阻值；调节第一分压电阻时，相应调节第二分压电阻，以保证电阻系数不变；根据偏置电流值、输入电压值、原副线圈匝数比系数、第一目标分压电阻值和电阻系数确定目标分压电压值；根据目标分压电压值确定对应充电电流值；根据充电电流值、原边导通时间、放电电流值和调节系数确定采样时间节点。可见，本申请在不改变原有采样电路结构的基础上，将偏置电流值与分压电压值和其余参数的对应关系进行组合，调节第一分压电阻进而调节采样时间节点。
专利主权项内容
1.一种调节采样时间节点的方法，其特征在于，包括：获取芯片内部的偏置电流对应的偏执电流值；获取根据第一分压电阻值和第二分压电阻值确定的电阻系数；调节第一分压电阻，以得第一目标分压电阻值；其中，在调节所述第一分压电阻过程中，相应调节第二分压电阻，以保证所述电阻系数不变；根据所述偏置电流值、输入电压值、原副线圈匝数比系数、所述第一目标分压电阻值和所述电阻系数确定目标分压电压值；根据所述目标分压电压值确定对应的充电电流值；根据所述充电电流值、原边导通时间、放电电流值和调节系数确定采样时间节点。