一种工业相机曝光测试设备及测试方法
申请人信息
- 申请人:深圳市度申科技有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市龙华区大浪街道浪口社区华霆路119号潮回楼工业园3栋4层A区分隔体
- 发明人: 深圳市度申科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种工业相机曝光测试设备及测试方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202410025266.5 |
| 申请日 | 2024/1/8 |
| 公告号 | CN117528067B |
| 公开日 | 2024/4/2 |
| IPC主分类号 | H04N17/00 |
| 权利人 | 深圳市度申科技有限公司 |
| 发明人 | 聂忠强 |
| 地址 | 广东省深圳市龙华区大浪街道浪口社区华霆路119号潮回楼工业园3栋4层A区分隔体 |
摘要文本
本申请涉及一种工业相机曝光测试设备及测试方法，涉及测试设备的技术领域，测试设备包括：LED阵列；所述LED阵列包括若干个等距排布的LED灯；每个所述LED灯依次发光且发光时长相等；时序电路；所述时序电路用于与工业相机相电连接；所述时序电路与所述LED阵列相电连接；所述时序电路用于产生发送给所述工业相机的触发信号以及产生驱动所述LED阵列工作的脉冲；背光调节电路；所述背光调节电路用于为所述LED阵列提供背景光；所述背景光的亮度小于所述LED灯发光时的亮度；MCU；所述MCU与所述时序电路相电连接；所述MCU用于设置所述时序电路的参数以使所述时序电路输出不同间隔的脉冲以及实现所述LED阵列的翻页。
专利主权项内容
1.一种工业相机曝光测试设备，其特征在于，包括：LED阵列；所述LED阵列包括若干个等距排布的LED灯；每个所述LED灯依次发光且发光时长相等；时序电路；所述时序电路用于与工业相机相电连接；所述时序电路与所述LED阵列相电连接；所述时序电路用于产生发送给所述工业相机的触发信号以及产生驱动所述LED阵列工作的脉冲；背光调节电路；所述背光调节电路用于为所述LED阵列提供背景光；所述背景光的亮度小于所述LED灯发光时的亮度；MCU；所述MCU与所述时序电路相电连接；所述MCU用于设置所述时序电路的参数以使所述时序电路输出不同间隔的脉冲以及实现所述LED阵列的翻页；所述时序电路包括：晶体振荡器、FPGA及驱动电路；所述晶体振荡器用于产生时钟脉冲至所述FPGA；所述FPGA与所述MCU相电连接，所述FPGA接收所述MCU发出的指令并基于所述指令对时钟脉冲进行处理，将处理后得到的脉冲发送至所述驱动电路；对时钟脉冲的处理包括：分频、占空比改变及延时处理中的至少一个；所述驱动电路与所述LED阵列相电连接，所述驱动电路将所述FPGA发送的所述脉冲进行升压并将升压后的脉冲发送至所述LED阵列；所述背光调节电路包括：可调电阻VR1、运算放大器及开关电源；所述可调电阻VR1的其中一固定脚接VCC，另一固定脚接GND，可调端连接于所述运算放大器的正相输入端；所述运算放大器的反相输入端连接于所述运算放大器的输出端；所述开关电源的输入端连接于所述运算放大器的输出端；所述开关电源的输出端与所述LED阵列相连接；所述开关电源的输出的电压与运算放大器输出的电压成反比例变化。