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一种针对目标电容屏的测试方法、装置以及电子设备
申请人信息
- 申请人:深圳市坤巨实业有限公司
- 申请人地址:518110 广东省深圳市龙华区大浪街道新石社区新百丽工业园8号2层
- 发明人: 深圳市坤巨实业有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种针对目标电容屏的测试方法、装置以及电子设备 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410033362.4 |
| 申请日 | 2024/1/10 |
| 公告号 | CN117538672A |
| 公开日 | 2024/2/9 |
| IPC主分类号 | G01R31/00 |
| 权利人 | 深圳市坤巨实业有限公司 |
| 发明人 | 钟鸣; 董迪菲 |
| 地址 | 广东省深圳市龙华区大浪街道新石社区新百丽工业园8号2层 |
摘要文本
本申请提供了一种针对目标电容屏的测试方法、装置以及电子设备，涉及电数字数据处理领域。方法包括：响应于用户针对目标电容屏中IC主控的测试操作，获取IC主控对应的主控信息，主控信息包括芯片方案商信息、型号信息以及芯片版本信息；在预设测试数据库中，获取主控信息对应的第一测试工具，预设测试数据库用于保存主控信息、第一测试工具以及主控信息与第一测试工具的对应关系；通过第一测试工具，对目标电容屏进行测试操作，并获取测试结果。本申请的技术方案，解决了仅靠测试人员对目标电容屏进行测试操作，耗时较高，且效率较低的问题。
专利主权项内容
1.一种针对目标电容屏的测试方法，其特征在于，所述方法包括：响应于用户针对目标电容屏的测试操作，获取所述目标电容屏中IC主控对应的主控信息，所述主控信息包括芯片方案商信息、型号信息以及芯片版本信息；在预设测试数据库中，获取所述主控信息对应的第一测试工具，所述预设测试数据库用于保存所述主控信息、所述第一测试工具以及所述主控信息与所述第一测试工具的对应关系；通过所述第一测试工具，对所述目标电容屏进行所述测试操作，并获取测试结果。