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用于电源完整性分析的芯片电流的构造方法
申请人信息
- 申请人:芯潮流(珠海)科技有限公司
- 申请人地址:519000 广东省珠海市横琴新区环岛东路1889号17栋127-128室
- 发明人: 芯潮流(珠海)科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 用于电源完整性分析的芯片电流的构造方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410026765.6 |
| 申请日 | 2024/1/9 |
| 公告号 | CN117540690A |
| 公开日 | 2024/2/9 |
| IPC主分类号 | G06F30/367 |
| 权利人 | 芯潮流(珠海)科技有限公司 |
| 发明人 | 宋海洋; 王建中; 周震康; 周春媛 |
| 地址 | 广东省珠海市横琴新区环岛东路1889号17栋127-128室 |
摘要文本
本公开的实施例提供了用于电源完整性分析的芯片电流的构造方法，其包括基于芯片电路的参数对芯片电路进行仿真，得到预定时段内芯片电路稳定工作状态下的第一动态电流；提取第一动态电流的交流分量和直流分量；获得所述芯片电路在状态转换过程的转换时间内随时间变化的平均电流；根据第一动态电流、在状态转换过程的转换时间内随时间变化的平均电流和转换时间获得芯片电路在状态转换过程中的第二动态电流。本公开的用于电源完整性分析的芯片电流的构造方法满足芯片电路的验证需求，并且能够极大的提高芯片电路的验证速度。
专利主权项内容
1.一种用于电源完整性分析的芯片电流的构造方法，其特征在于包括：基于芯片电路的参数对芯片电路进行仿真，得到预定时段内芯片电路稳定工作状态下的第一动态电流；提取第一动态电流的交流分量和直流分量；获得所述芯片电路在状态转换过程的转换时间内随时间变化的平均电流；根据第一动态电流、在状态转换过程的转换时间内随时间变化的平均电流和转换时间获得芯片电路在状态转换过程中的第二动态电流。