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基于ATE设备的动态负载校准方法及系统、设备、介质

申请号: CN202410130664.3
申请人: 珠海芯业测控有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 基于ATE设备的动态负载校准方法及系统、设备、介质
专利类型 发明申请
申请号 CN202410130664.3
申请日 2024/1/31
公告号 CN117665686A
公开日 2024/3/8
IPC主分类号 G01R35/00
权利人 珠海芯业测控有限公司
发明人 黄程
地址 广东省珠海市高新区唐家湾镇1号会展中心3#三层1单元

摘要文本

本申请提供了一种基于ATE设备的动态负载校准方法及系统、设备、介质;涉及集成电路测试技术领域。方法包括:将与待测的IO通道单元连接的通道开关闭合,控制其余通道开关保持断开;分别在待测的IO通道单元上施加大小为第一预设理论值的拉电流、大小为第二预设理论值的灌电流并分别获取检测的第一电压、第二电压;根据第一电压、第二电压、第一预设理论值、第二预设理论值、精密电阻的阻值、预设的DAC分辨率、初始DAC值进行计算得到增益值、偏置值、DAC校准值;当校准误差小于或等于预设误差阈值,将增益值和偏置值保存至数据库。能提高对动态负载的校准效率和校准精度,从而提高ATE设备测试被测芯片时的准确性和测试效率。

专利主权项内容

1.一种基于ATE设备的动态负载校准方法,其特征在于,应用于动态负载校准系统的上位机;所述动态负载校准系统还包括:与所述上位机通信连接的ATE设备、测量校准模块和数据库;其中,所述ATE设备包括:多块数字通道板;每块所述数字通道板包括:多个引脚电子芯片、多个通道开关;每个所述引脚电子芯片包括:两个待测的IO通道单元;每个所述通道开关对应地连接在一个所述IO通道单元与所述测量校准模块之间;所述测量校准模块包括:并联的测量单元和精密电阻;所述动态负载校准方法包括:将与待测的IO通道单元连接的所述通道开关闭合,并控制其余的所述通道开关保持断开;基于初始DAC值,在所述待测的IO通道单元上施加大小为第一预设理论值的拉电流,并获取所述测量单元检测的第一电压;在所述待测的IO通道单元上施加大小为第二预设理论值的灌电流,并获取所述测量单元检测的第二电压;根据所述第一电压、所述第二电压、所述第一预设理论值、所述第二预设理论值、所述精密电阻的阻值、预设的DAC分辨率进行校准系数计算处理,得到校准系数;其中,所述校准系数包括增益值和偏置值;根据预设校准公式对所述增益值、所述偏置值、预设的DAC分辨率、初始DAC值进行校准值计算处理,得到DAC校准值;基于所述DAC校准值,在所述待测的IO通道单元上进行校准误差测试,得到校准误差;当所述校准误差小于或等于预设误差阈值,将所述增益值和所述偏置值保存至所述数据库,结束对所述待测的IO通道单元进行的校准处理。