基于SiPM的温度补偿方法、装置、设备、存储介质

专利主权项内容

1.一种基于SiPM的温度补偿方法，其特征在于，应用于光学检测设备，所述光学检测设备包括检测部SiPM光学组件，所述SiPM光学组件与所述检测部可相对移动，所述SiPM光学组件内设置有至少一个光学通道，所述光学通道中设置有通道光源和SiPM元器件，所述检测部包括第一检测点和至少一个第二检测点，所述第一检测点为通道口被标准物覆盖的检测通道，所述第二检测点为设置有待测样品且所述通道口未设置所述标准物的所述检测通道，所述标准物可被所述通道光源激发形成第一发射光，所述待测样品可被所述通道光源激发形成第二发射光，所述第一发射光的强度位于待测强度范围内，所述待测强度范围为所述第二发射光的强度范围，所述基于SiPM的温度补偿方法包括：在启动样品检测之前，所述SiPM元器件处于参考温度时，关闭所述通道光源进行光学检测得到暗背景参考值，打开所述通道光源对所述第一检测点进行光学检测得到标准物参考值；在启动样品检测之后，控制所述SiPM光学组件与所述检测部相对移动，开启所述通道光源，基于所述光学通道的所述SiPM元器件，对所述第一检测点进行光学检测得到标准物检测值，对各个所述第二检测点进行光学检测得到各个所述待测样品的样品检测值；关闭所述通道光源，通过所述SiPM元器件进行光学检测得到暗背景检测值；基于所述暗背景参考值、所述标准物参考值、所述标准物检测值和所述暗背景检测值确定补偿系数；针对每个所述待测样品，基于所述补偿系数、所述样品检测值、所述暗背景参考值和所述暗背景检测值确定样品参考值，其中，所述样品参考值用于指示所述SiPM元器件处于所述参考温度时检测对应的所述待测样品所能够得到的光学检测值。