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超声波检测中C扫图像填充方法、装置、设备及介质

申请号: CN202410011868.5
申请人: 常州市新创智能科技有限公司
更新日期: 2026-03-20

专利详细信息

项目 内容
专利名称 超声波检测中C扫图像填充方法、装置、设备及介质
专利类型 发明申请
申请号 CN202410011868.5
申请日 2024/1/2
公告号 CN117830087A
公开日 2024/4/5
IPC主分类号 G06T3/4007
权利人 常州市新创智能科技有限公司
发明人 谈源; 史伟林; 朱维
地址 江苏省常州市新北区西夏墅镇金山路5号

摘要文本

本发明涉及超声波检测技术领域,尤其涉及一种超声波检测中C扫图像填充方法、装置、设备及介质,包括:获取超声波探头在碳板和/或探头移动过程中,每个位置处的A扫图像;将每一帧的A扫图像根据其图像中界面波与底波之间波形的波高值,赋值为灰度值或RGB值,转换成一个像素点,并将像素点的位置与碳板位置相对应,形成C扫图像;遍历C扫图像,找出其中的空白像素点;找出空白像素点相邻的像素点对应的A扫图像,根据A扫图像中的波高,对空白像素点进行插值。本发明中,遍历形成的C扫图像,找出空白像素点,然后根据空白像素点相邻的像素点对应的A扫图像,根据其中的波高,对空白像素点进行插值,从而将空白消除,保证超声波检测的准确性。

专利主权项内容

1.一种超声波检测中C扫图像填充方法,其特征在于,包括如下步骤:获取超声波探头在碳板和/或探头移动过程中,每个位置处的A扫图像;将每一帧的A扫图像根据其图像中界面波与底波之间波形的波高值,赋值为灰度值或RGB值,转换成一个像素点,并将所述像素点的位置与碳板位置相对应,形成C扫图像;遍历所述C扫图像,找出其中的空白像素点;找出所述空白像素点相邻的像素点对应的A扫图像,根据所述A扫图像中的波高,对所述空白像素点进行插值。