一种Etch设备自动监控和故障解决方法及系统
申请人信息
- 申请人:无锡尚积半导体科技有限公司
- 申请人地址:214000 江苏省无锡市新吴区长江南路35-312号厂房
- 发明人: 无锡尚积半导体科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种Etch设备自动监控和故障解决方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410178410.9 |
| 申请日 | 2024/2/9 |
| 公告号 | CN117724458A |
| 公开日 | 2024/3/19 |
| IPC主分类号 | G05B23/02 |
| 权利人 | 无锡尚积半导体科技有限公司 |
| 发明人 | 俞铭熙; 王兆丰; 王世宽; 李智敏 |
| 地址 | 江苏省无锡市新吴区长江南路35-312号厂房 |
摘要文本
本发明公开了一种Etch设备自动监控和故障解决方法及系统,属于半导体制造技术领域。方法包括:设备调试监控步骤、工艺调试监控步骤、生产制成监控步骤、故障排除步骤。本发明能够24小时全方位监控每一台刻蚀设备,并与UI系统连接以自动解决Etch设备使用过程中出现的各种问题。与其他自动解决问题的方法不同,本发明无需工程师录入各种问题解决代码后让程序根据Error去搜索及执行命令,当一个Error发生时,本方法会访问UI系统中各个腔体组成模块,逐个获取元件状态,再根据已设定的参数条件,自动完善解决问题,从而避免一些并不影响工艺实际流程和品质的非硬件故障打断工艺流程,减少不必要的时间损耗,提高制造效率。
专利主权项内容
1.一种Etch设备自动监控和故障解决方法,其特征在于,包括如下步骤:设备调试监控步骤,包括:监控设备完整校准过程中的各项数据,根据气体校准后得到的数据计算偏差值,当偏差值超出预先设定的偏差范围时,发送指令至UI系统更改腔体安装设定,随后发送指令至UI系统重新开始校准;重复调试监控步骤,直至偏差值在预先设定的偏差范围内;当监控到UI系统产生Error报警时,根据报警信号获取对应的参数及UI系统中影响此参数的元件,根据Error的发生源信号逐个访问配合调试的参数并进行修改,当报警信号消失时停止对参数的访问,当报警未消失时将修改后的参数恢复原值继续修改下一个参数,当全部参数访问完毕但报警信号仍未消失时访问影响参数的元件,当无法与元件通信时,发出提醒;工艺调试监控步骤,包括:放置晶圆在装载设备中,传送晶圆进腔体运行新建的工艺菜单,同步监测各项工艺参数,如有参数偏差值过大时停止工艺运行,同步控制UI系统更改工艺菜单中的参数数据直至工艺菜单稳定运行;更改参数时采用控制变量法;监控调试终点,抓取需要抓取介质或金属的单项片刻蚀过程中全部波长强度的变化,根据不同波长的曲线,选定此介质或者金属的波长,并根据曲线变化计算工艺过程中的变换率,生成终点抓取的工艺菜单;生产制成监控步骤,包括:针对生产制成过程进行监控,当达到必要开腔条件时,发出开腔提醒;当出现问题时获取工艺相关数据,并进行相应处理:当静电吸附盘出现吸附失败时,判断当达到必要开腔条件时,发出开腔提醒,当未达到必要开腔条件,自动重试静电吸附;待问题片工艺结束后,能够选择清洗程序进行清洗,清洗程度的时长与本次生产的重要程度相对应;并在后续工艺中观测膜层对应波长的变换幅度确定目前腔体的状态,当设备工艺运行中出现过热警报时,判断当实际温度参数在稳定范围内时,将警报类型由Error更改为Warning,让工艺继续完成;待工艺结束后,再将警报类型变更为Error,并发出检查接线端提醒;故障排除步骤,包括:当需解决硬件问题时,发送通信信号控制UI系统,通过发送控制信号逐个访问疑似问题备件的前端控制板,判断未能反馈正常通讯信号的控制板为损坏的控制板,实现故障控制板的精确定位;当需解决非硬件问题时,获取Error描述信息,并放宽腔体设置参数。