一种双线式裸晶芯片测试分选机

专利主权项内容

1.一种双线式裸晶芯片测试分选机，包括机台，在所述机台上设置有直线模组；其特征在于：在所述机台上设置有第一分选线和第二分选线，第一分选线和第二分选线分布在直线模组的两侧，用于同时分选不同规格的芯片；所述第一分选线和第二分选线为相同的结构，均包括：摇盘供料机构，用于堆叠储料；第一动子平台，用于未检测裸晶芯片的输送；检测机构，用于检测裸晶芯片IR值，以筛选不合格品；第二动子平台，用于检测后的合格裸晶芯片的输送；摇盘收料机构，用于合格裸晶芯片堆叠收料；所述直线模组包括第一直线模组和第二直线模组，所述第一直线模组和第二直线模组上均设置有支架，第一直线模组的支架两端分别装配有第一夹爪机构，单个所述第一夹爪机构活动在对应侧的同一分选线的摇盘供料机构与第一动子平台之间，用于第一分选线和第二分选线同时上料；第二直线模组的支架两端分别装配有第二夹爪机构，单个所述第二夹爪机构活动在对应侧的同一分选线的第二动子平台与摇盘收料机构之间，用于第一分选线和第二分选线同时下料。