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待测设计的测试方法、装置、电子设备和存储介质
申请人信息
- 申请人:苏州联芸科技有限公司
- 申请人地址:215124 江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道1355号国际科技园一期142
- 发明人: 苏州联芸科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 待测设计的测试方法、装置、电子设备和存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410122991.4 |
| 申请日 | 2024/1/29 |
| 公告号 | CN117648263A |
| 公开日 | 2024/3/5 |
| IPC主分类号 | G06F11/36 |
| 权利人 | 苏州联芸科技有限公司 |
| 发明人 | 郑德品; 周春怡; 夏仁涛 |
| 地址 | 江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道1355号国际科技园一期142 |
摘要文本
公开了一种待测设计的测试方法、装置、电子设备和存储介质，属于计算机领域。该方法包括：获取待测设计的目标测试，目标测试包括：单一模块的单功能测试、单一模块不同功能的交互测试、多模块间的交互测试和多模块间不同功能的交互测试中的至少一种；基于已构建的系统基础测试用例，获取与目标测试对应的目标测试用例；目标测试用例至少部分继承系统基础测试用例；利用目标测试用例对待测设计执行目标测试；系统基础测试用例包括基础验证环境，基础验证环境包括：基础环境控制变量库和针对待测设计中M个模块的M个模块验证环境；M个模块验证环境与待测设计中的M个模块一一对应；基础环境控制变量库提供用于控制M个模块的基础环境控制变量。
专利主权项内容
1.一种待测设计的测试方法，其特征在于，包括：获取待测设计的目标测试，所述目标测试包括：单一模块的单功能测试、单一模块不同功能的交互测试、多模块间的交互测试和多模块间不同功能的交互测试中的至少一种；基于已构建的系统基础测试用例，获取与所述目标测试对应的目标测试用例；其中，所述目标测试用例至少部分继承所述系统基础测试用例；利用所述目标测试用例对所述待测设计执行所述目标测试；其中，所述系统基础测试用例包括基础验证环境，所述基础验证环境包括：基础环境控制变量库和针对所述待测设计中的M个模块的M个模块验证环境；所述M个模块验证环境与所述待测设计中的M个模块一一对应；所述基础环境控制变量库提供用于控制所述待测设计中的M个模块的基础环境控制变量。