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一种内存测试服务器架构
申请人信息
- 申请人:苏州元脑智能科技有限公司
- 申请人地址:215100 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
- 发明人: 苏州元脑智能科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种内存测试服务器架构 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410220312.7 |
| 申请日 | 2024/2/28 |
| 公告号 | CN117806429A |
| 公开日 | 2024/4/2 |
| IPC主分类号 | G06F1/18 |
| 权利人 | 苏州元脑智能科技有限公司 |
| 发明人 | 龚磊; 韩红瑞; 赵波; 庞潇 |
| 地址 | 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢 |
摘要文本
本发明公开一种内存测试服务器架构，涉及服务器技术领域，为解决提高测试结果可靠性的问题，包括测试主机、主板环境模组以及温度环境模组；主板环境模组包括服务器主板，服务器主板上设置有用于与待测内存卡插接配合的内存插槽；温度环境模组包括测试温腔和调温器，测试温腔用于对安装于内存插槽上的待测内存卡形成密闭测试空间，调温器用于调节测试温腔的测试温度；测试主机与服务器主板及调温器信号连接，用于根据预设测试程序控制调温器的工作状态并通过服务器主板对待测内存卡进行测试。本发明能够在实现对内存进行质量测试的基础上，尽量确保测试环境贴近实际运行的服务器环境，提高测试结果可靠性。
专利主权项内容
1.一种内存测试服务器架构，其特征在于，包括测试主机(1)、主板环境模组(2)以及温度环境模组(3)；所述主板环境模组(2)包括服务器主板(21)，所述服务器主板(21)上设置有用于与待测内存卡插接配合的内存插槽；所述温度环境模组(3)包括测试温腔(31)和调温器(32)，所述测试温腔(31)用于对安装于所述内存插槽上的待测内存卡形成密闭测试空间，所述调温器(32)用于调节所述测试温腔(31)的测试温度；所述测试主机(1)与所述服务器主板(21)及所述调温器(32)信号连接，用于根据预设测试程序控制所述调温器(32)的工作状态并通过所述服务器主板(21)对待测内存卡进行测试。。（） （来 自 ）