芯片引线键合质量检测方法、系统及存储介质

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本发明公开了一种芯片引线键合质量检测方法、系统及存储介质，检测方法包括：获取芯片引线图像，并使用R、G、B三个通道表示；分别对芯片引线图像的R、G、B三个通道进行图像预处理，并根据设定的融合系数将三个通道的处理结果进行融合；提取图像中的引线和压点，分别对压点质量和引线质量进行检测。提出了多通道信息融合的图像处理方法，以获取芯片引线的精确几何模型信息，同时针对芯片引线不同的质量缺陷，建立芯片引线键合质量检测的数学模型，设计实现相关的算法，从而提高芯片引线键合的检测质量和效率。