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芯片引线键合质量检测方法、系统及存储介质

申请号: CN202410185841.8
申请人: 常熟理工学院
更新日期: 2026-03-20

摘要文本

常熟理工学院取得“一种透气窗帘布”专利技术,本发明公开了一种芯片引线键合质量检测方法、系统及存储介质,检测方法包括:获取芯片引线图像,并使用R、G、B三个通道表示;分别对芯片引线图像的R、G、B三个通道进行图像预处理,并根据设定的融合系数将三个通道的处理结果进行融合;提取图像中的引线和压点,分别对压点质量和引线质量进行检测。提出了多通道信息融合的图像处理方法,以获取芯片引线的精确几何模型信息,同时针对芯片引线不同的质量缺陷,建立芯片引线键合质量检测的数学模型,设计实现相关的算法,从而提高芯片引线键合的检测质量和效率。

专利主权项内容

1.一种芯片引线键合质量检测方法,其特征在于,包括以下步骤:S01:获取芯片引线图像,并使用R、G、B三个通道表示;S02:分别对芯片引线图像的R、G、B三个通道进行图像预处理,并根据设定的融合系数将三个通道的处理结果进行融合;S03:提取图像中的引线和压点,分别对压点质量和引线质量进行检测。。关注微信公众号

专利申请信息

项目内容
专利名称芯片引线键合质量检测方法、系统及存储介质
专利类型发明申请
申请号CN202410185841.8
申请日2024/2/20
公告号CN117745723A
公开日2024/3/22
IPC主分类号G06T7/00
权利人常熟理工学院
发明人谢志鑫; 张文浩; 翟树峰; 郭宜娜; 杨辰宇; 张夏玮; 杨静峰; 蒋睿; 张贵阳
地址江苏省苏州市常熟市南三环路99号