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一种基于Testing Library的UI组件库测试方法、存储介质及电子设备

申请号: CN202410179741.4
申请人: 杭州玳数科技有限公司
更新日期: 2026-03-20

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种基于Testing Library的UI组件库测试方法、存储介质及电子设备
专利类型 发明申请
申请号 CN202410179741.4
申请日 2024/2/18
公告号 CN117724988A
公开日 2024/3/19
IPC主分类号 G06F11/36
权利人 杭州玳数科技有限公司
发明人 王雄辉; 赵章万; 刘听颉
地址 浙江省杭州市余杭区仓前街道余杭塘路2301号海智中心8幢102室-5

摘要文本

本申请涉及前端代码测试技术领域,解决了现有技术中UI组件库的测试难度大且效率低下的问题,公开了一种基于Testing Library的UI组件库测试方法、存储介质及电子设备,该方法包括:对待测UI组件库进行全局配置;对所述待测UI组件库中组件关键DOM节点的查询方法和用户事件交互方法进行抽离并编写对应的测试用例;根据所述测试用例生成JSDoc文档;将所述查询方法和用户事件交互方法引入web项目中并为用户提供样例代码,该方法能够减少重复性代码,开发者无需再去翻阅源码即可查看元素如何查询与用户事件如何触发,并且,能够自动提示测试工具库每个方法的使用方式及基本测试代码,以降低测试难度并提高测试效率。

专利主权项内容

1.一种基于Testing Library的UI组件库测试方法,其特征在于,包括:对待测UI组件库进行全局配置;对所述待测UI组件库中组件关键DOM节点的查询方法进行抽离;对所述待测UI组件库中组件的用户事件交互方法进行抽离;根据抽离出的所述查询方法和用户事件交互方法编写对应的测试用例;在代码编译完成后根据所述测试用例为所述查询方法和用户事件交互方法生成JSDoc文档;将所述查询方法和用户事件交互方法引入web项目中并为用户提供样例代码,以协助用户对所述待测UI组件库进行测试。