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一种基于双线阵超声波场分离的超声成像方法及装置

申请号: CN202410210242.7
申请人: 之江实验室
更新日期: 2026-03-20

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种基于双线阵超声波场分离的超声成像方法及装置
专利类型 发明申请
申请号 CN202410210242.7
申请日 2024/2/26
公告号 CN117770870A
公开日 2024/3/29
IPC主分类号 A61B8/00
权利人 之江实验室
发明人 林宏翔; 雷一鸣; 韩长山; 吴光未
地址 浙江省杭州市文一西路1818号

摘要文本

本说明书公开了一种基于双线阵超声波场分离的超声成像方法及装置。所述方法包括:针对每侧的超声线阵,获取该超声线阵接收到的混叠信号;根据混叠信号在时间域中的不同截距和斜率,将混叠信号转换到表示混叠信号各斜率与截距之间对应关系的目标域中,得到待分离信号;确定透射信号在时间域中对应的目标截距和目标斜率;根据目标斜率和目标截距对待分离信号进行分离,得到待转换透射信号和待转换反射信号;将待转换透射信号和待转换反射信号转换到时间域,得到目标透射信号以及目标反射信号;根据每侧超声线阵对应的目标透射信号进行超声计算层析成像以及目标反射信号进行B型超声成像。。

专利主权项内容

1.一种基于双线阵超声波场分离的超声成像方法,其特征在于,由若干超声探头的阵元构成的超声线阵分别布署在检测目标两侧,包括:针对每侧的超声线阵,获取该超声线阵接收到的混叠信号,其中,所述检测目标单侧的超声线阵向对侧的超声线阵发射超声信号,所述混叠信号为在单侧激发情况下,通过将双侧线阵接收到的超声信号叠加在一起得到的,所述混叠信号中包含有反射信号以及由线阵发射并穿透所述检测目标的透射信号;根据所述混叠信号在时间域中所对应不同振幅直线的截距和斜率,将所述混叠信号转换到表示各斜率与截距之间对应关系的目标域中,得到待分离信号;确定透射信号在所述时间域中对应的目标截距和目标斜率;根据所述目标斜率和所述目标截距对所述待分离信号进行分离,得到待转换透射信号和待转换反射信号;将所述待转换透射信号和所述待转换反射信号转换到所述时间域,得到目标透射信号以及目标反射信号;根据每侧超声线阵对应的目标透射信号进行超声计算层析成像以及目标反射信号进行B型超声成像。。更多数据: