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基于密度检测的异常分析方法、设备以及存储介质
申请人信息
- 申请人:浙江大华技术股份有限公司
- 申请人地址:310051 浙江省杭州市滨江区滨安路1187号
- 发明人: 浙江大华技术股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于密度检测的异常分析方法、设备以及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410062419.3 |
| 申请日 | 2024/1/16 |
| 公告号 | CN117576634A |
| 公开日 | 2024/2/20 |
| IPC主分类号 | G06V20/52 |
| 权利人 | 浙江大华技术股份有限公司 |
| 发明人 | 高美; 蔡旗; 李中振; 冯长驹 |
| 地址 | 浙江省杭州市滨江区滨安路1187号 |
摘要文本
本申请公开了一种基于密度检测的异常分析方法、设备以及存储介质，该基于密度检测的异常分析方法包括：对获取到的待检测图像进行特征检测处理，得到待检测图像中的目标区域，目标区域中含有目标对象；基于目标区域的图像面积和预先设定的透视变换参数确定目标区域的实际面积，透视变换参数用于表征同一目标区域的图像面积和实际面积之间的透视关系；基于实际面积和目标对象的数量确定目标区域中目标对象的目标密度；响应于目标密度大于预设的密度阈值，对目标区域进行异常分析，得到异常分析结果。上述方案，能够提高对异常事件的分析效率。
专利主权项内容
1.一种基于密度检测的异常分析方法，其特征在于，所述方法包括：对获取到的待检测图像进行特征检测处理，得到所述待检测图像中的目标区域，所述目标区域中含有目标对象；基于所述目标区域的图像面积和预先设定的透视变换参数确定所述目标区域的实际面积，所述透视变换参数用于表征同一目标区域的所述图像面积和所述实际面积之间的透视关系；基于所述实际面积和所述目标对象的数量确定所述目标区域中所述目标对象的目标密度；响应于所述目标密度大于预设的密度阈值，对所述目标区域进行异常分析，得到异常分析结果。