芯片调试方法、装置及电子设备
申请人信息
- 申请人:凌思微电子(杭州)有限公司
- 申请人地址:311201 浙江省杭州市萧山区经济技术开发区明星路371号1幢824-7
- 发明人: 凌思微电子(杭州)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 芯片调试方法、装置及电子设备 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202410023203.6 |
| 申请日 | 2024/1/8 |
| 公告号 | CN117520082B |
| 公开日 | 2024/4/2 |
| IPC主分类号 | G06F11/26 |
| 权利人 | 凌思微电子(杭州)有限公司 |
| 发明人 | 蔡先伟; 张新天; 王江伟 |
| 地址 | 浙江省杭州市萧山区经济技术开发区明星路371号1幢824-7 |
摘要文本
本申请提供了一种芯片调试方法、装置及电子设备，涉及芯片测试技术领域，其中，该方法包括：对待测芯片的引脚集合中的各个引脚进行检测，以得到检测结果；在检测结果表示目标引脚组中包括的引脚接收到同步波形信号时，将目标引脚组配置为调试引脚组，目标引脚组为引脚集合中的任意一个引脚组，同步波形信号是由调试器发送给待测芯片的；在接收到调试器发送的调试请求时，向调试器发送应答信号，应答信号用于向调试器通知待测芯片已成功配置调试引脚组以及允许调试器基于目标引脚组对待测芯片进行调试。实施本申请提供的技术方案，解决了相关技术中存在的芯片调试的灵活性较差的技术问题，达到了提高芯片调试的灵活性的效果。。微信公众号
专利主权项内容
1.一种芯片调试方法，其特征在于，应用于待测芯片中，包括：对所述待测芯片的引脚集合中的各个引脚进行检测，以得到检测结果；在所述检测结果表示目标引脚组中包括的引脚接收到同步波形信号的情况下，将所述目标引脚组配置为调试引脚组，其中，所述目标引脚组为所述引脚集合中的任意一个引脚组，所述同步波形信号是由调试器发送给所述待测芯片的；在接收到所述调试器发送的调试请求的情况下，向所述调试器发送应答信号，其中，所述应答信号用于向所述调试器通知所述待测芯片已成功配置调试引脚组以及允许所述调试器基于所述目标引脚组对所述待测芯片进行调试；其中，所述在所述检测结果表示目标引脚组中包括的引脚接收到同步波形信号的情况下，将所述目标引脚组配置为调试引脚组，包括：确定第一引脚所接收到的第一波形信号，以及确定第二引脚所接收到的第二波形信号，其中，所述目标引脚组中包括所述第一引脚和所述第二引脚，所述同步波形信号中包括所述第一波形信号和所述第二波形信号；根据所述第一波形信号和所述第二波形信号，将所述目标引脚组配置为所述调试引脚组；其中，所述根据所述第一波形信号和所述第二波形信号，将所述目标引脚组配置为所述调试引脚组，包括以下之一：当确定在相同时段内所述第一波形信号所对应的第一翻转次数大于或等于所述第二波形信号所对应的第二翻转次数的情况下，将所述第一引脚配置为调试时钟引脚，以及将所述第二引脚配置为调试数据引脚，其中，所述调试引脚组包括所述调试时钟引脚和所述调试数据引脚；当确定在相同时段内所述第一波形信号所对应的第一翻转次数小于所述第二波形信号所对应的第二翻转次数的情况下，将所述第二引脚配置为调试时钟引脚，以及将所述第一引脚配置为调试数据引脚，其中，所述调试引脚组包括所述调试时钟引脚和所述调试数据引脚。。 （）