离子辐照模拟中子辐照的应力腐蚀拉伸试样及制备方法
申请人信息
- 申请人:中国科学院金属研究所; 国家电投集团科学技术研究院有限公司
- 申请人地址:110016 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号
- 发明人: 中国科学院金属研究所; 国家电投集团科学技术研究院有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 离子辐照模拟中子辐照的应力腐蚀拉伸试样及制备方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201710740489.X |
| 申请日 | 2017年8月25日 |
| 公告号 | CN107462451B |
| 公开日 | 2024年1月19日 |
| IPC主分类号 | G01N1/28 |
| 权利人 | 中国科学院金属研究所; 国家电投集团科学技术研究院有限公司 |
| 发明人 | 邓平; 彭群家; 孙晨; 韩恩厚; 柯伟 |
| 地址 | 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号; 北京市昌平区未来科技城国家电投集团科学技术研究院有限公司院内A座8层至11层 |
摘要文本
本发明属于应力腐蚀拉伸试样制备领域，具体为一种适用于离子辐照模拟中子辐照的应力腐蚀拉伸试样及制备方法，用于研究辐照后材料的应力腐蚀敏感性，以评价材料在核电站高温高压水环境下的服役性能。该拉伸试样包括矩形横截面的平行部分标距段、切向过渡圆弧部分和螺纹连接夹持部分，其制备方法包括以下步骤：(a)制备试样单元体；(b)砂纸研磨；(c)手动抛光；(d)超声清洗；(e)预观察；(f)EBSD检测。本发明所提供的应力腐蚀拉伸试样能够均匀接受离子辐照，并有效突出辐照的影响，其制备方法简单，可实施性强，成本低廉，且所用制备方法能有效避免造成试样表面化学成分变化。
专利主权项内容
1.一种离子辐照模拟中子辐照的应力腐蚀拉伸试样的制备方法，其特征在于，该拉伸试样包括矩形横截面的平行部分标距段、切向过渡圆弧部分和螺纹连接夹持部分，在拉伸试样的两端采用螺纹连接夹持部分，在平行部分标距段与螺纹连接夹持部分之间具有切向过渡圆弧部分，平行部分标距段用于接受离子辐照和试验后材料的应力腐蚀行为观察；切向过渡圆弧部分是用于连接平行部分标距段向拉伸试样两端螺纹连接夹持部分过渡，消除在试验过程中过渡处发生应力集中，切向过渡圆弧部分的一端与平行部分标距段相切，切向过渡圆弧部分的另一端终止于螺纹连接夹持部分；螺纹连接夹持部分用于将拉伸试样固定夹持在试样夹具上，进行应力腐蚀拉伸试验；矩形横截面的平行部分标距段尺寸为长×宽×高＝(15 ~ 30 ) mm × (1.5 ~ 3) mm×(1 ~ 2) mm；拉伸试样两端的螺纹连接夹持部分为M4~5 mm，其上细牙螺纹长度为6~10mm；螺纹连接夹持部分的螺纹端部与平行部分标距段的端部距离为2~4 mm，切向过渡圆弧部分的半径为1.8~2.2 mm，拉伸试样的整体长度为31~58 mm；所述的离子辐照模拟中子辐照的应力腐蚀拉伸试样的制备方法，包括以下工艺步骤：(a)制备试样单元体：取出试样单元体，然后车削成型；(b)砂纸研磨：将步骤(a)所得试样表面进行研磨处理并冲洗；(c)手动抛光：将步骤(b)所得试样进行抛光，去除表面残余应变层；(d)超声清洗：将步骤(c)抛光后试样清洗、干燥；(e)预观察：观察试样待辐照面被轻微侵蚀、隐约可见晶界；(f)EBSD检测：将预观察合格的试样进行表面残余应变层检测，确定是否用于离子辐照。