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一种化石样品内部结构跨尺度综合分析方法

申请号: CN202410162769.7
申请人: 中国科学院南京地质古生物研究所
申请日期: 2024/2/5

摘要文本

本发明公开了一种化石样品内部结构跨尺度综合分析方法,包括:使用3D‑XRM在高分辨率扫描模式下对化石样品进行扫描,得到高分辨率3D‑XRM数据,确定化石样品内部感兴趣区域ROI;制作表面带刻度标记的包埋块;使用3D‑XRM在低分辨率模式下对包埋块进行扫描,得到低分辨率3D‑XRM数据;并将低分辨率数据与高分辨率3D‑XRM数据进行对齐,确定化石样品内部感兴趣区域与包埋块表面刻度的相对位置;在包埋块的表面进行划线定位,对包埋块进行定向切割,利用FIB‑SEM对暴露ROI的薄片进行测试,并进行三维重建;将高分辨率3D‑XRM数据导入VGstudioMax软件中,从而得到联合使用两种技术对同一化石跨尺度‑多模态的分析结果。本发明实现了快速、经济、有效定位至化石样品内部的感兴趣区域位置。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种化石样品内部结构跨尺度综合分析方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202410162769.7
申请日 2024/2/5
公告号 CN117783168A
公开日 2024/3/29
IPC主分类号 G01N23/04
权利人 中国科学院南京地质古生物研究所
发明人 陈倩; 殷宗军; 吴素萍; 方艳; 阳乐
地址 江苏省南京市北京东路39号

专利主权项内容

1.一种化石样品内部结构跨尺度综合分析方法,其特征在于,包括:步骤B:使用3D-XRM在高分辨率扫描模式下对化石样品进行扫描,得到高分辨率3D-XRM数据;并基于3D-XRM数据进行三维重建,得到化石样品内部结构图像,确定所述化石样品内部感兴趣区域ROI;步骤C:将所述化石样品制作为表面带刻度标记的包埋块;步骤D:使用3D-XRM在低分辨率模式下对所述包埋块进行快速扫描,得到低分辨率3D-XRM数据;并在三维图像处理软件中将该步骤得到的低分辨率数据与步骤B得到的高分辨率3D-XRM数据进行对齐,确定化石样品内部感兴趣区域与包埋块表面刻度的相对位置;步骤E:基于确定的化石样品内部感兴趣区域与包埋块表面刻度的相对位置,在包埋块的表面进行划线定位,以确定待切割面;使用切割机沿着待切割面对包埋块进行定向切割,得到含ROI的薄片,并对其中一个切割面进行研磨,得到暴露ROI的薄片;步骤G:利用FIB-SEM对暴露ROI的薄片进行测试分析,并将得到的FIB-SEM三维数据导入VGstudioMax软件进行三维重建;步骤H:将高分辨率3D-XRM数据导入上述包含FIB-SEM三维数据的VGstudioMax软件中,进行数据处理和精细对准,从而得到联合使用两种技术对同一化石跨尺度-多模态的分析结果。