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一种半导体蚀刻工艺专用石英组合外环

申请号: CN202421105199.X
申请人: 苏州金琳芯半导体科技有限公司
更新日期: 2026-04-25

摘要文本

苏州金琳芯半导体科技有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本实用新型公开了一种半导体蚀刻工艺专用石英组合外环,涉及集成电路制造技术领域,该半导体蚀刻工艺专用石英组合外环,包括反应离子刻蚀机,所述石英环内开设有嵌入槽,所述凸块的顶端表面开设有加固槽,所述卡柱的内部开设有插槽。本实用新型通过石英环、嵌入槽、加固槽和插槽相互配合,嵌入槽的存在可以使石英环更加稳固地结合在一起,确保装配的精确度和稳定性,而加固槽和卡柱的设计进一步增强了连接的牢固性,有效减轻外力对石英环的振动和冲击,从而提高机械部件的耐久性和稳定性,减少因误差而导致的装配困难,减少人为因素对产品装配的影响,可以快速拆卸和更换损坏的部件,节省维护和维修时间。

专利主权项内容

1.一种半导体蚀刻工艺专用石英组合外环,包括反应离子刻蚀机(1)和安装在反应离子刻蚀机(1)外侧表面接地承载盘(4),其特征在于:所述接地承载盘(4)的顶端表面安装有晶圆承载盘(2),所述晶圆承载盘(2)的顶端活动安装有石英环(3),所述石英环(3)内开设有嵌入槽(31),所述嵌入槽(31)内壁处均匀分布有凸块(32),所述凸块(32)的顶端表面开设有加固槽(33),所述加固槽(33)内壁处均匀分布有卡柱(34),所述卡柱(34)的内部开设有插槽(35),所述接地承载盘(4)的内部安装有真空吸附组件,所述晶圆承载盘(2)的顶端表面均匀分布有顶端挤压固定组件,所述顶端挤压固定组件的外侧表面安装有压板块(11),所述压板块(11)的底端表面与石英环(3)的顶端表面活动接触。

专利申请信息

项目 内容
专利名称 一种半导体蚀刻工艺专用石英组合外环
专利类型 实用新型
申请号 CN202421105199.X
申请日 2024/5/21
公告号 CN222281947U
公开日 2024/12/31
IPC主分类号 H01L21/67
权利人 苏州金琳芯半导体科技有限公司
发明人 周小琳
地址 江苏省苏州市吴江区江陵街道同津大道4799号2幢101室