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一种分区掺杂的高耐压沟槽碳化硅VDMOS
申请人信息
- 申请人:泰科天润半导体科技(北京)有限公司
- 申请人地址:100000 北京市顺义区中关村科技园区顺义园临空二路1号
- 发明人: 泰科天润半导体科技(北京)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种分区掺杂的高耐压沟槽碳化硅VDMOS |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 申请号 | CN202420725630.4 |
| 申请日 | 2024/4/9 |
| 公告号 | CN222051773U |
| 公开日 | 2024/11/22 |
| IPC主分类号 | H01L29/06 |
| 权利人 | 泰科天润半导体科技(北京)有限公司 |
| 发明人 | 施广彦; 张长沙; 张瑜洁; 李昀佶 |
| 地址 | 北京市顺义区中关村科技园区顺义园临空二路1号 |
摘要文本
泰科天润半导体科技(北京)有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本实用新型提供了一种分区掺杂的高耐压沟槽碳化硅VDMOS,包括:第一漂移层下侧面连接至碳化硅衬底上侧面;第二漂移层下侧面连接至第一漂移层上侧面,所述第二漂移层上设有凹槽,所述凹槽底部两侧分别设有保护区;栅介质层,所述栅介质层设于所述凹槽上,所述栅介质层内设有沟槽;阱区,所述阱区连接至所述第二漂移层上侧面,所述阱区内设有源区,所述阱区一侧面以及源区一侧面连接至所述栅介质层侧面;栅极金属层,所述栅极金属层设于所述沟槽内;源极金属层,所述源极金属层分别连接所述阱区以及源区;以及,漏极金属层,所述漏极金属层连接至所述碳化硅衬底下侧面,实现了高耐压、低阻和高可靠的兼具,使得器件性能优良。
专利主权项内容
1.一种分区掺杂的高耐压沟槽碳化硅VDMOS,其特征在于,包括:
碳化硅衬底,
第一漂移层,所述第一漂移层下侧面连接至所述碳化硅衬底上侧面;
第二漂移层,所述第二漂移层下侧面连接至所述第一漂移层上侧面,所述第二漂移层上设有凹槽,所述凹槽底部两侧分别设有保护区;
栅介质层,所述栅介质层设于所述凹槽上,所述栅介质层内设有沟槽;
阱区,所述阱区连接至所述第二漂移层上侧面,所述阱区内设有源区,所述阱区一侧面以及源区一侧面连接至所述栅介质层侧面;
栅极金属层,所述栅极金属层设于所述沟槽内;
源极金属层,所述源极金属层分别连接所述阱区以及源区;
以及,漏极金属层,所述漏极金属层连接至所述碳化硅衬底下侧面。