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一种分区掺杂的高耐压沟槽碳化硅VDMOS

申请号: CN202420725630.4
申请人: 泰科天润半导体科技(北京)有限公司
更新日期: 2026-04-25

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种分区掺杂的高耐压沟槽碳化硅VDMOS
专利类型 实用新型
申请号 CN202420725630.4
申请日 2024/4/9
公告号 CN222051773U
公开日 2024/11/22
IPC主分类号 H01L29/06
权利人 泰科天润半导体科技(北京)有限公司
发明人 施广彦; 张长沙; 张瑜洁; 李昀佶
地址 北京市顺义区中关村科技园区顺义园临空二路1号

摘要文本

泰科天润半导体科技(北京)有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本实用新型提供了一种分区掺杂的高耐压沟槽碳化硅VDMOS,包括:第一漂移层下侧面连接至碳化硅衬底上侧面;第二漂移层下侧面连接至第一漂移层上侧面,所述第二漂移层上设有凹槽,所述凹槽底部两侧分别设有保护区;栅介质层,所述栅介质层设于所述凹槽上,所述栅介质层内设有沟槽;阱区,所述阱区连接至所述第二漂移层上侧面,所述阱区内设有源区,所述阱区一侧面以及源区一侧面连接至所述栅介质层侧面;栅极金属层,所述栅极金属层设于所述沟槽内;源极金属层,所述源极金属层分别连接所述阱区以及源区;以及,漏极金属层,所述漏极金属层连接至所述碳化硅衬底下侧面,实现了高耐压、低阻和高可靠的兼具,使得器件性能优良。

专利主权项内容

1.一种分区掺杂的高耐压沟槽碳化硅VDMOS,其特征在于,包括:
碳化硅衬底,
第一漂移层,所述第一漂移层下侧面连接至所述碳化硅衬底上侧面;
第二漂移层,所述第二漂移层下侧面连接至所述第一漂移层上侧面,所述第二漂移层上设有凹槽,所述凹槽底部两侧分别设有保护区;
栅介质层,所述栅介质层设于所述凹槽上,所述栅介质层内设有沟槽;
阱区,所述阱区连接至所述第二漂移层上侧面,所述阱区内设有源区,所述阱区一侧面以及源区一侧面连接至所述栅介质层侧面;
栅极金属层,所述栅极金属层设于所述沟槽内;
源极金属层,所述源极金属层分别连接所述阱区以及源区;
以及,漏极金属层,所述漏极金属层连接至所述碳化硅衬底下侧面。