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半导体结构与半导体结构的形成方法

申请号: CN202211067996.9
申请人: 长鑫存储技术有限公司
更新日期: 2026-03-09

摘要文本

长鑫存储技术有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,一种半导体结构及其制造方法,该半导体结构包括:衬底、第一缓冲结构、第二缓冲结构和导电结构,衬底包括相背的第一面和第二面;第一缓冲结构位于所述衬底中,且沿第一方向延伸,所述第一方向为由所述第一面指向所述第二面的方向;第二缓冲结构位于所述第一缓冲结构的部分侧壁上,且沿第二方向延伸,所述第二方向与所述第一方向相交;导电结构位于所述第一缓冲结构中,且沿所述第一方向延伸。本公开提供的半导体结构提高了应力释放能力,改善了半导体结构中应力集中的问题。

专利主权项内容

1.一种半导体结构,其特征在于,包括:衬底,包括相背的第一面和第二面;第一缓冲结构,位于所述衬底中,且沿第一方向延伸,所述第一方向为由所述第一面指向所述第二面的方向;第二缓冲结构,位于所述第一缓冲结构的部分侧壁上,且沿第二方向延伸,所述第二方向与所述第一方向相交;以及导电结构,位于所述第一缓冲结构中,且沿所述第一方向延伸。

专利申请信息

项目内容
专利名称半导体结构与半导体结构的形成方法
专利类型发明申请
申请号CN202211067996.9
申请日2022/9/1
公告号CN117673033A
公开日2024/3/8
IPC主分类号H01L23/538
权利人长鑫存储技术有限公司
发明人张永会
地址安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号