一种芯片设计用试验检测设备

专利主权项内容

1.一种芯片设计用试验检测设备，包括底部支撑台(1)、芯片检测座(2)、活动连接顶板(3)和升降气缸(4)，其特征在于，所述芯片检测座(2)设置在底部支撑台(1)的顶端，所述底部支撑台(1)的侧部通过支架与升降气缸(4)安装连接，所述升降气缸(4)的伸缩端与活动连接顶板(3)的侧部连接且使得活动连接顶板(3)与芯片检测座(2)对应，所述活动连接顶板(3)的底端中部设置有芯片检测板(5)，所述芯片检测座(2)的顶端中部嵌设安装有芯片检测槽位(6)，所述芯片检测槽位(6)的内部设置有齐平胶环(11)，所述齐平胶环(11)的内部设置有芯片顶出板(12)，所述芯片顶出板(12)的底部设置有气动推动组，所述芯片检测座(2)顶端的一侧设置有推动下料机构；
推动下料机构包括直线轨道条(13)、气动滑动座(14)、推杆件(15)和芯片下料板条(16)，所述直线轨道条(13)安装在芯片检测座(2)顶端的一侧，所述气动滑动座(14)滑动设置在直线轨道条(13)的轨道处且气动滑动座(14)端部与推杆件(15)连接，所述推杆件(15)的一端与芯片下料板条(16)连接。