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用于缓存的检测和填充方法及装置、电子设备与存储介质
申请人信息
- 申请人:海光云芯集成电路设计(上海)有限公司
- 申请人地址:200131 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区春晓路289号501、502室
- 发明人: 海光云芯集成电路设计(上海)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 用于缓存的检测和填充方法及装置、电子设备与存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311451686.1 |
| 申请日 | 2023/11/2 |
| 公告号 | CN117435381A |
| 公开日 | 2024/1/23 |
| IPC主分类号 | G06F11/07 |
| 权利人 | 海光云芯集成电路设计(上海)有限公司 |
| 发明人 | 贾琳黎 |
| 地址 | 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区春晓路289号501、502室 |
摘要文本
海光云芯集成电路设计(上海)有限公司获取“一种透气窗帘布”专利技术，一种用于缓存的检测方法及装置、用于缓存的填充方法及装置、电子设备与存储介质。该缓存包括多个分组和多个路，每个分组包括与多个路分别对应的多个缓存行，多个分组包括目标分组，目标分组包括与第一路对应的目标缓存行。该用于缓存的检测方法包括：检测目标分组的多个缓存行中是否存在不可修复的坏点；响应于目标分组的目标缓存行中存在不可修复的坏点，将目标缓存行所对应的第一路的路信息记录到坏点信息数据中。当缓存的组相联结构中存在不可修复的坏点时，该检测方法可以将不可修复的坏点所在的路的信息更新到坏点信息数据中，利用缓存本身的组相连结构即可规避坏点，不需要额外增加硬件资源，从而提高了芯片的良率，降低了成本。
专利主权项内容
1.一种用于缓存的检测方法，其中，所述缓存包括多个分组和多个路，所述多个分组中的每个分组包括与所述多个路分别对应的多个缓存行，所述多个分组包括目标分组，所述目标分组包括与第一路对应的目标缓存行，所述用于缓存的检测方法包括：检测所述目标分组的多个缓存行中是否存在不可修复的坏点；响应于所述目标分组的目标缓存行中存在不可修复的坏点，将所述目标缓存行所对应的所述第一路的路信息记录到坏点信息数据中。