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一种存储测试装置及其测试方法
申请人信息
- 申请人:合肥康芯威存储技术有限公司
- 申请人地址:230601 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D3栋5层
- 发明人: 合肥康芯威存储技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种存储测试装置及其测试方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202311703328.5 |
| 申请日 | 2023/12/13 |
| 公告号 | CN117409847B |
| 公开日 | 2024/3/22 |
| IPC主分类号 | G11C29/42 |
| 权利人 | 合肥康芯威存储技术有限公司 |
| 发明人 | 余玉; 许展榕 |
| 地址 | 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D3栋5层 |
摘要文本
本发明提供了一种存储测试装置及其测试方法，其中存储测试装置用于测试存储器，存储测试装置包括中央处理器，且中央处理器与存储器电性连接，其中中央处理器包括：存储单元，存储单元中存储多个参数组，其中参数组至少包括初始预设信息和初始预设信息的初始循环校验码；校验码修改单元，在存储器接收到初始预设信息后，根据部分数据翻转后的初始预设信息，校验码获取待测预设信息；校验码获取单元，在待测预设信息被写入存储器后，校验码获取单元从存储器中获取待测预设信息的待测循环校验码；以及校验码比较单元，用于获取待测循环校验码和初始循环校验码的比较结果数据，且根据比较结果数据，存储测试装置遍历测试多个参数组或停止测试。
专利主权项内容
1.一种存储测试装置，其特征在于，所述存储测试装置用于测试存储器，所述存储测试装置包括中央处理器，且所述中央处理器与所述存储器电性连接，其中所述中央处理器包括：存储单元，所述存储单元中存储多个参数组，其中所述参数组至少包括初始预设信息和所述初始预设信息的初始循环校验码；校验码修改单元，在所述存储器接收到所述初始预设信息后，所述校验码修改单元将部分数据翻转后的所述初始预设信息作为待测预设信息；校验码获取单元，在所述待测预设信息被写入所述存储器后，所述校验码获取单元从所述存储器中获取所述待测预设信息的待测循环校验码；以及校验码比较单元，用于获取所述待测循环校验码和所述初始循环校验码的比较结果数据，且根据所述比较结果数据，所述存储测试装置遍历测试多个所述参数组或停止测试。 搜索马 克 数 据 网