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一种存储器的测试系统及测试方法
申请人信息
- 申请人:合肥康芯威存储技术有限公司
- 申请人地址:230601 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D3栋5层
- 发明人: 合肥康芯威存储技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种存储器的测试系统及测试方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311744268.1 |
| 申请日 | 2023/12/19 |
| 公告号 | CN117435416A |
| 公开日 | 2024/1/23 |
| IPC主分类号 | G06F11/22 |
| 权利人 | 合肥康芯威存储技术有限公司 |
| 发明人 | 余玉; 许展榕 |
| 地址 | 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D3栋5层 |
摘要文本
本发明提供了一种存储器的测试系统及测试方法，包括：至少一个测试板，被配置为其上通信连接有待测存储器，以搭建对应的测试环境；以及处理器，通信连接于测试板，且被配置为根据待测存储器的类型，设定对应的数据写入比例，以对待测存储器进行写入测试；处理器还被配置为获取待测存储器的测试结果，上传至主机进行汇总，并重复向待测存储器写入数据，直至擦除次数达到预设次数为止。通过本发明提供的一种存储器的测试系统及测试方法，能够对不同类型的存储器同时进行寿命压力测试。。该数据由<专利查询网>整理
专利主权项内容
1.一种存储器的测试系统，其特征在于，包括：至少一个测试板，被配置为其上通信连接有待测存储器，以搭建对应的测试环境；以及处理器，通信连接于所述测试板，且被配置为根据所述待测存储器的类型，设定对应的数据写入比例，以对所述待测存储器进行写入测试；所述处理器还被配置为获取所述待测存储器的测试结果，上传至主机进行汇总，并重复向所述待测存储器写入数据，直至擦除次数达到预设次数为止。