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一种存储器性能的测试系统及测试方法
申请人信息
- 申请人:合肥康芯威存储技术有限公司
- 申请人地址:230601 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D3栋5层
- 发明人: 合肥康芯威存储技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种存储器性能的测试系统及测试方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202311734159.1 |
| 申请日 | 2023/12/18 |
| 公告号 | CN117423377B |
| 公开日 | 2024/3/22 |
| IPC主分类号 | G11C29/56 |
| 权利人 | 合肥康芯威存储技术有限公司 |
| 发明人 | 余玉; 许展榕 |
| 地址 | 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D3栋5层 |
摘要文本
本发明提供了一种存储器性能的测试系统及测试方法，包括：测试温箱，被配置为调节测试的环境温度；至少一个测试板，位于所述测试温箱内，且被配置为其上通讯连接有待测存储器，以搭建对应的测试环境；以及处理器，通信连接于所述测试板，且被配置为获取所述环境温度与主机数据，对所有的所述待测存储器进行读写操作，以获取所有的所述待测存储器的性能值。通过本发明提供的一种存储器性能的测试系统及测试方法，能够同时对不同型号的存储器的性能进行测试。
专利主权项内容
1.一种存储器性能的测试系统，其特征在于，包括：测试温箱，被配置为调节测试的环境温度；至少一个测试板，位于所述测试温箱内，且被配置为其上通讯连接有待测存储器，以搭建对应的测试环境，不同所述待测存储器的型号不同；以及处理器，通信连接于所述测试板，且被配置为获取所述环境温度与主机数据，对所有的所述待测存储器进行读写操作，以获取所有的所述待测存储器的性能值；所述处理器还被配置为确定所述待测存储器的数据传输引脚处于低电平状态时，执行的动作为暂停读写操作，直至所述数据传输引脚处于高电平状态为止；所述处理器还被配置为确定所述待测存储器的数据传输引脚处于高电平状态时，执行的动作为执行读写操作，直至数据读写完成为止；所述待测存储器的数量小于或等于所述测试板的数量，所述测试板的数量小于或等于所述处理器的核心数量。 搜索马 克 数 据 网