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一种低硼硅玻璃缺陷检测方法
申请人信息
- 申请人:山东鲁玻玻璃科技有限公司
- 申请人地址:272500 山东省济宁市汶上县郭楼镇张坝口村东500米
- 发明人: 山东鲁玻玻璃科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种低硼硅玻璃缺陷检测方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311702705.3 |
| 申请日 | 2023/12/12 |
| 公告号 | CN117571745A |
| 公开日 | 2024/2/20 |
| IPC主分类号 | G01N21/958 |
| 权利人 | 山东鲁玻玻璃科技有限公司 |
| 发明人 | 刘培训; 刘东昕; 何振强; 刘坤; 郑胜利; 安晓娜; 代林军; 张召兴; 赵明胜; 刘成子 |
| 地址 | 山东省济宁市汶上县郭楼镇张坝口村东500米 |
摘要文本
本发明涉及新型材料检测技术领域，具体涉及一种低硼硅玻璃缺陷检测方法；采集红外光谱数据；获取红外光谱数据中每个数据点的加噪量，进而得到加噪数据；获取加噪数据的各个分量信号以及红外光谱数据的各个分量信号，进而得到加噪数据的噪声影响程度；获取红外光谱数据的噪声影响程度；根据加噪数据的噪声影响程度、红外光谱数据的噪声影响程度以及红外光谱数据中每个数据点的加噪量，获取红外光谱数据的整体加噪量；根据红外光谱数据的整体加噪量，获取滤波窗口的大小；根据滤波窗口的大小去噪得到去噪后的红外光谱数据。本发明旨在自适应最优滤波窗口大小对红外光谱数据进行去噪，通过红外光谱数据对低硼硅玻璃进行晶化缺陷检测。
专利主权项内容
1.一种低硼硅玻璃缺陷检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：采集低硼硅玻璃的红外光谱数据；根据红外光谱数据中数据点的幅值，获取红外光谱数据中每个数据点的加噪量；根据红外光谱数据中每个数据点的加噪量，对红外光谱数据中每个数据点进行加噪，获取加噪数据；根据加噪数据以及红外光谱数据，获取加噪数据的各个分量信号以及红外光谱数据的各个分量信号；根据加噪数据中数据点的幅值、红外光谱数据中数据点的幅值、加噪数据的分量信号中数据点的幅值以及红外光谱数据的分量信号中数据点的幅值，获取加噪数据的噪声影响程度；根据红外光谱数据中数据点的幅值以及红外光谱数据的分量信号中数据点的幅值，获取红外光谱数据的噪声影响程度；根据加噪数据的噪声影响程度、红外光谱数据的噪声影响程度以及红外光谱数据中每个数据点的加噪量，获取红外光谱数据的整体加噪量；根据红外光谱数据的整体加噪量，获取滤波窗口的大小；根据滤波窗口的大小对红外光谱数据进行去噪，得到去噪后的红外光谱数据，通过去噪后的红外光谱数据对低硼硅玻璃进行缺陷检测。