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一种相衬光学相干弹性成像应变计算方法及系统
申请人信息
- 申请人:广东工业大学
- 申请人地址:510062 广东省广州市越秀区东风东路729号
- 发明人: 广东工业大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种相衬光学相干弹性成像应变计算方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311469114.6 |
| 申请日 | 2023/11/7 |
| 公告号 | CN117470125A |
| 公开日 | 2024/1/30 |
| IPC主分类号 | G01B11/16 |
| 权利人 | 广东工业大学 |
| 发明人 | 董博; 吴睿; 倪梓浩; 白玉磊; 谢胜利 |
| 地址 | 广东省广州市越秀区东风东路729号 |
摘要文本
本发明公开了一种相衬光学相干弹性成像应变计算方法及系统,方法包括:获取样品变形过程中每个状态的干涉光谱,并从这些干涉光谱中提取包括多张幅值图和多张相位图在内的频谱信息;基于图像相关性匹配,对多张幅值图的ROI区域中的每个像素进行亚像素位移追踪,获取对应的切向位移场和轴向位移场;基于多张相位图并将结合像素级位移偏移量,获取对应的差分相位场;结合切向位移场、轴向位移场以及差分相位场求取切向应变场和轴向应变场。本发明能消除相衬光学相干弹性成像中的散斑退相关现象,拓展测量量程,还能使相衬光学相干弹性成像技术在保证轴向高灵敏应变测量的基础上,增加切向位移场和应变场测量的能力。
专利主权项内容
1.一种相衬光学相干弹性成像应变计算方法,其特征在于,包括:获取样品变形过程中每个状态的干涉光谱,并从这些干涉光谱中提取包括多张幅值图和多张相位图在内的频谱信息;基于图像相关性匹配,对多张幅值图的ROI区域中的每个像素进行亚像素位移追踪,获取对应的切向位移场和轴向位移场;基于多张相位图并将结合像素级位移偏移量,获取对应的差分相位场;结合切向位移场、轴向位移场以及差分相位场求取切向应变场和轴向应变场。 来自马-克-数-据-官网