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一种碳化硅半导体衬底的抛光工艺

申请号: CN202311416229.9
申请人: 深圳中机新材料有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种碳化硅半导体衬底的抛光工艺
专利类型 发明申请
申请号 CN202311416229.9
申请日 2023/10/30
公告号 CN117428672A
公开日 2024/1/23
IPC主分类号 B24B37/04
权利人 深圳中机新材料有限公司
发明人 陈斌
地址 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区粤兴三道8号中国地质大学产学研基地中地大楼C601

摘要文本

深圳中机新材料有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本发明属于半导体材料技术领域,具体涉及一种碳化硅半导体衬底的抛光工艺,该抛光工艺包括以下步骤:将碳化硅半导体衬底压在同方向旋转的聚氨酯抛光垫上,向抛光垫上加入抛光液,碳化硅半导体衬底被抛光垫抛光;其中抛光液为氧化硅抛光液,由以下重量份组分组成:氧化硅15‑20份;氧化剂1‑2份;改性分散剂2‑8份;防腐剂0.5‑1份;去离子水100份。本发明所提供的抛光工艺具有较高的切削率和去除率,抛光后的产品表面质量好,更能满足市场需求。

专利主权项内容

1.一种碳化硅半导体衬底的抛光工艺,其特征在于,所述抛光工艺包括以下步骤:将碳化硅半导体衬底压在同方向旋转的聚氨酯抛光垫上,向抛光垫上加入抛光液,碳化硅半导体衬底被抛光垫抛光;所述抛光液为氧化硅抛光液。。微信公众号马克数据网