← 返回列表
基于图像的偏光片缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
摘要文本
深圳市宇创显示科技有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本发明提供了一种基于图像的偏光片缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，其中，该方法包括：获取待检测偏光片和预设的偏光片缺陷检测模型；通过预设的偏振成像系统对所述待检测偏光片进行偏振成像处理，生成所述待检测偏光片对应的检测图像；将所述检测图像输入所述偏光片缺陷检测模型中，得到检测结果。本方法采用了偏振成像技术，通过对待检测偏光片进行偏振成像处理，可以获取到更加丰富的偏光片表面特征和缺陷信息。同时，通过提前训练好的偏光片缺陷检测模型，将检测图像输入到模型中，得到准确的缺陷检测结果，通过使用预设的偏光片缺陷检测模型，可以实现自动化的缺陷检测分析，大大提高了效率和准确性。 来源：百度搜索专利查询网
专利主权项内容
1.一种基于图像的偏光片缺陷检测方法，其特征在于，所述基于图像的偏光片缺陷检测方法包括：获取待检测偏光片和预设的偏光片缺陷检测模型；通过预设的偏振成像系统对所述待检测偏光片进行偏振成像处理，生成所述待检测偏光片对应的检测图像；将所述检测图像输入所述偏光片缺陷检测模型中，得到检测结果。
专利申请信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于图像的偏光片缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311447390.2 |
| 申请日 | 2023/11/1 |
| 公告号 | CN117437202A |
| 公开日 | 2024/1/23 |
| IPC主分类号 | G06T7/00 |
| 权利人 | 深圳市宇创显示科技有限公司 |
| 发明人 | 赵金宝 |
| 地址 | 广东省深圳市龙华区观澜街道黎光社区黎光新工业区15号(厂房1)201 |