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基于光学衍射层析的不均匀溶液的检测方法及装置
申请人信息
- 申请人:北京大学长三角光电科学研究院
- 申请人地址:226001 江苏省南通市崇州大道60号紫琅科技城15号楼
- 发明人: 北京大学长三角光电科学研究院
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于光学衍射层析的不均匀溶液的检测方法及装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311131818.2 |
| 申请日 | 2023/9/4 |
| 公告号 | CN117420099A |
| 公开日 | 2024/1/19 |
| IPC主分类号 | G01N21/47 |
| 权利人 | 北京大学长三角光电科学研究院 |
| 发明人 | 高翔; 马睿; 夏安楠; 施可彬; 陈飞; 李艳莉; 杨燕青; 贺心雨; 耿乐; 王艳丹; 冯邱锴 |
| 地址 | 江苏省南通市崇州大道60号紫琅科技城15号楼 |
摘要文本
本发明涉及一种基于光学衍射层析的不均匀溶液的检测方法及装置。其方法包括：获取干涉条纹信息，以及荧光信号的时域自相关函数；对干涉条纹信息进行提取处理，得到待检测溶液的折射率分布信息；基于预设的激发光参数信息、预设的物镜参数信息和所述折射率分布信息，得到用于表征观测体积的三维点扩散函数；基于所述三维点扩散函数，获取观测体积的横向半径和轴向半径；基于观测体积的横向半径和轴向半径，将所述时域自相关函数与三维自由扩散模型相拟合，计算出待检测溶液的局部浓度、分子流体动力学半径和扩散系数。本发明的目的是解决现有方法操作流程复杂，且因不均匀溶液中观测体积表征不准确导致的检测结果容易出现误差的问题。
专利主权项内容
1.一种基于光学衍射层析的不均匀溶液的检测方法，其特征在于，包括：获取光学衍射层析成像装置采集待测溶液的散射光信号与参考光的干涉条纹信息，以及荧光相关光谱装置采集所述待检测溶液的荧光信号的时域自相关函数；对所述干涉条纹信息进行提取处理，得到待检测溶液的折射率分布信息；基于预设的激发光参数信息、预设的物镜参数信息和所述折射率分布信息，得到用于表征观测体积的三维点扩散函数；基于所述三维点扩散函数，获取观测体积的横向半径和轴向半径；基于观测体积的横向半径和轴向半径，将所述时域自相关函数与三维自由扩散模型相拟合，计算出待检测溶液的局部浓度、分子流体力学半径和扩散系数。